特許
J-GLOBAL ID:200903034490908304
X線異物検出装置
発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-252042
公開番号(公開出願番号):特開2004-061479
出願日: 2002年07月27日
公開日(公表日): 2004年02月26日
要約:
【課題】X線異物検出装置において、幅の広い被検査物に対しても高精度な異物検出が可能にする。【解決手段】複数台のX線発生器と、そのおのおののX線発生器に対応して、異物検出に必要なX線透過量を得ることのできる距離だけ離れた位置に配置され、かつ、被検査物の全領域を検査できるように、それぞれの検査領域が重なり合う様に配置された複数台のX線検出器と、X線発生器から照射されるX線が他の領域のX線検出器に照射されないために複数台の絞り装置または遮蔽板を配置する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
複数台のX線発生器と、そのおのおののX線発生器に対応して、異物検出に必要なX線透過量を得ることのできる距離だけ離れた位置に配置され、かつ、被検査物の全領域を検査できるように、それぞれの検査領域が重なり合う様に配置された複数台のX線検出器と、X線発生器から照射されるX線が他の領域のX線検出器に照射されないために設けられた複数台の絞り装置または遮蔽板を有することを特徴とするX線異物検出装置。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (14件):
2G001AA01
, 2G001AA10
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001DA02
, 2G001DA06
, 2G001DA08
, 2G001GA06
, 2G001HA13
, 2G001JA09
, 2G001KA03
, 2G001PA11
, 2G001SA01
, 2G001SA04
引用特許:
審査官引用 (6件)
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X線検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-346182
出願人:株式会社イシダ
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X線異物検出装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-365459
出願人:アンリツ株式会社
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錠剤検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-237049
出願人:株式会社湯山製作所
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