特許
J-GLOBAL ID：200903034905035280
機器の劣化度算出方法およびリスク評価方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
村上 友一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-048767
公開番号（公開出願番号）：特開2009-205554
出願日： 2008年02月28日
公開日（公表日）： 2009年09月10日
要約：
【課題】より正確な劣化度を求め、過去に行なったメンテナンスなどの経験を生かせる劣化度算出方法を提供する。【解決手段】この機器の劣化度算出方法は、機器の使用開始からの経過時間を複数の期間に分割し、過去の劣化度に基づいて、機器の種類ごとに前記分割した各期間のそれぞれについて、予め劣化度の推移を求め、メンテナンス検討対象とする機器とその累積使用時間とから、予め求めた劣化度の推移に基づいて、メンテナンス検討対象機器に対して、その累積使用時間における劣化度を求める。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
機器の使用開始からの経過時間を複数の期間に分割し、各期間のそれぞれに対して使用時間と劣化度の関係を求め、メンテナンス検討対象とする機器とその累積使用時間とから劣化度の推移を求め、
予め求めた劣化度の推移に基づいて、メンテナンス検討対象機器に対して、その累積使用時間における劣化度を求める、
ことを特徴とする機器の劣化度算出方法。
IPC (1件)：
FI (2件)：
G05B23/02 R
, G05B23/02 T
5H223AA03
, 5H223DD03
, 5H223EE30
, 5H223FF06
出願人引用 (3件)
審査官引用 (6件)
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