特許
J-GLOBAL ID：200903036610342140

眼科撮影装置

発明者：
村田 俊夫

村田 俊夫 について


出願人/特許権者：
株式会社ニデック

株式会社ニデック について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-341514
公開番号（公開出願番号）：特開2009-160190
出願日： 2007年12月29日
公開日（公表日）： 2009年07月23日
要約：
【課題】 検者が所望する眼底部位をスムーズに観察する。【解決手段】 低コヒーレント長の光束を出射する光源から発せられた光を被検眼に向けて照射する照射手段と、前記測定光を走査する走査手段と、参照光の光路長と被検眼に照射される測定光の光路長との光路差を変更する光路差変更手段と、参照光と前記測定光の反射光との合成により得られる干渉光を受光することにより被検眼の断層画像を得る干渉光学系と、断層画像を表示する表示手段と、を備える眼科撮影装置において、表示手段に表示される前記断層画像上における任意の位置を指定する位置指定手段と、該位置指定手段の前記指定位置情報,または前記指定位置の移動情報に基づいて前記光路差変更手段によって前記光路差を変更して、前記参照光の光路長に対応する被検眼の深さ位置を変更する制御手段と、を備える。【選択図】 図4
請求項（抜粋）：
低コヒーレント長の光束を出射する光源から発せられた光を参照光と測定光とに分割し,該測定光を被検眼に向けて照射する照射手段と、前記照射手段によって被検眼に照射される前記測定光を走査する走査手段と、前記参照光の光路長と被検眼に照射される前記測定光の光路長との光路差を変更する光路差変更手段と、前記参照光と前記測定光の反射光との合成により得られる干渉光を受光することにより被検眼の断層画像を得る干渉光学系と、前記干渉光学系によって取得された前記断層画像を表示する表示手段と、を備える眼科撮影装置において、 前記表示手段に表示される前記断層画像上における任意の位置を指定する位置指定手段と、 該位置指定手段の前記指定位置情報,または前記指定位置の移動情報に基づいて前記光路差変更手段によって前記光路差を変更して、前記参照光の光路長に対応する被検眼の深さ位置を変更する制御手段と、を備えることを特徴とする眼科装置。
IPC (2件)：
A61B 3/12 ,  A61B 3/10
FI (3件)：
A61B3/12 E ,  A61B3/10 W ,  A61B3/10 R
Fターム (22件)：
2G059AA05 ,  2G059AA06 ,  2G059BB12 ,  2G059BB13 ,  2G059CC16 ,  2G059EE09 ,  2G059FF02 ,  2G059GG01 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK04 ,  2G059LL01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10 ,  2G059PP04
引用特許：
出願人引用 (1件)
  • 眼科装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2005-347288   出願人：株式会社ニデック
審査官引用 (8件)
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