特許
J-GLOBAL ID：200903036901527598

多結晶固体の材料特性解析システム、多結晶固体の材料特性解析方法、多結晶固体の材料特性解析プログラム、及び記録媒体

発明者：
木村 圭一

木村 圭一 について

, 
田中 将元

田中 将元 について


出願人/特許権者：
新日本製鐵株式会社

新日本製鐵株式会社 について


代理人 (1件)： 國分 孝悦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-110654
公開番号（公開出願番号）：特開2009-264750
出願日： 2008年04月21日
公開日（公表日）： 2009年11月12日
要約：
【課題】多結晶固体のEBSD測定から得られる前記多結晶固体の結晶方位情報と位置情報とを含む数値データを使用して、実材料を詳細に反映した材料特性の三次元数値解析を、詳細でかつ誤差の少なく実行できるようにする。【解決手段】多結晶固体を構成する結晶粒に対して、後方散乱電子回折装置を用いて1つの結晶粒について複数の測定点を含むように測定対象の各結晶粒を計測されて得た数値データAiを入力し、入力された数値データAiを有限要素に割り付け、前記有限要素に三次元テンソルで表わされる物性値を与えて有限要素モデルを構築し、該有限要素モデルを用いて前記数値データAiを数値解析する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
多結晶固体の後方散乱電子回折像から得られる該多結晶固体の測定点に関する位置と結晶方位とを少なくとも含む数値データAを用いて、該多結晶固体の材料特性を解析する解析システムであって、 前記多結晶固体を構成する結晶粒に対して、後方散乱電子回折装置において1つの結晶粒について複数の測定点を含むように測定対象の各結晶粒を計測して得た数値データAiを入力する入力手段と、 前記入力手段によって入力された数値データAiに対して有限要素に割り付ける割り付け手段と、 前記有限要素に三次元テンソルで表わされる物性値を与えて有限要素モデルを構築する構築手段と、 前記有限要素モデルを用いて前記数値データAiを数値解析する解析手段と、 前記解析手段による数値解析結果を出力する出力手段と、 を少なくとも有することを特徴とする多結晶固体の材料特性解析システム。
IPC (2件)：
G01N 23/203 ,  G01N 23/225
FI (2件)：
G01N23/203 ,  G01N23/225
Fターム (10件)：
2G001AA03 ,  2G001BA18 ,  2G001CA03 ,  2G001GA14 ,  2G001HA13 ,  2G001KA08 ,  2G001KA12 ,  2G001LA02 ,  2G001LA06 ,  2G001QA01
引用特許：
出願人引用 (5件)
全件表示
審査官引用 (5件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM