特許
J-GLOBAL ID:200903037094110943

プラント診断装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 紋田 誠
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-127556
公開番号(公開出願番号):特開平8-304125
出願日: 1995年04月28日
公開日(公表日): 1996年11月22日
要約:
【要約】【構成】 周波数解析部103は、データ入力部102により取込まれたデータを用い所定のサンプリング周期と所定のデータ数とからなる解析パラメータによってオンラインで周波数解析を行ってオンライン周波数解析データを出力する。比較処理部104は、オンライン周波数解析データと正常時周波数解析データとを比較して比較結果を出力し、判定部106は、比較結果からプラントの状態を判定して判定結果データを出力し、判定結果通知部107は、判定結果データを外部へ通知する。解析パラメータ指示部108は、判定結果データを取込み判定結果データに応じて周波数解析部103が解析する解析パラメータを設定変更する。【効果】プラントの状態に応じて解析パラメータを設定変更できる。
請求項(抜粋):
プラントデータを取込むデータ入力部と、このデータ入力部により取込まれたデータを用い所定のサンプリング周期と所定のデータ数とからなる解析パラメータによってオンラインで周波数解析を行ってオンライン周波数解析データを出力する周波数解析部と、プラントが正常のときの周波数解析結果を正常時周波数解析データとして保存する正常時周波数特性データベースと、前記オンライン周波数解析データと前記正常時周波数解析データとを比較してプラントの状態を判定して判定結果データを出力する判定部と、この判定部による判定結果データを外部へ通知する判定結果通知部とを有するプラント診断装置において、前記判定部から前記判定結果データを取込み判定結果データに応じて前記周波数解析部が解析する解析パラメータを設定変更する解析パラメータ指示部を備えることを特徴とするプラント診断装置。
IPC (2件):
G01D 21/00 ,  G05B 23/02
FI (2件):
G01D 21/00 Q ,  G05B 23/02 C
引用特許:
審査官引用 (8件)
  • 特開平3-261823
  • 回転機器異常診断装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平3-250306   出願人:株式会社日立製作所
  • 特公平4-044932
全件表示

前のページに戻る