特許

J-GLOBAL ID：200903037158655426

導電性微粒子の外観検査方法及び外観検査装置

発明者： 奥田 正己
出願人/特許権者： 積水化学工業株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-086060
公開番号（公開出願番号）：特開2003-279494
出願日： 2002年03月26日
公開日（公表日）： 2003年10月02日
要約：

【要約】 (修正有)【課題】 球状の樹脂微粒子の表面に金属メッキが施された導電性微粒子について、粒子径に係わらず、容易に全表面を検査することができる導電性微粒子の外観検査方法及び外観検査装置を提供する。【解決手段】 球状の樹脂微粒子の表面に金属メッキが施された導電性微粒子の外観を検査する方法であって、落下させた導電性微粒子を、位置センサの信号に基づきカメラを用いて撮影し、得られた画像を画像処理して判定を行う導電性微粒子の外観検査方法。

請求項（抜粋）：

球状の樹脂微粒子の表面に金属メッキが施された導電性微粒子の外観を検査する方法であって、落下させた導電性微粒子を、位置センサの信号に基づきカメラを用いて撮影し、得られた画像を画像処理して判定を行うことを特徴とする導電性微粒子の外観検査方法。

IPC (2件)：

G01N 21/85 ,  G01N 21/84

FI (2件)：

G01N 21/85 Z ,  G01N 21/84 C

Fターム (9件)：

2G051AA01 ,  2G051AB02 ,  2G051AB03 ,  2G051AB12 ,  2G051AC15 ,  2G051CA04 ,  2G051CA07 ,  2G051DA01 ,  2G051DA13

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 粉粒体検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-075347   出願人：株式会社クボタ
• 穀粒選別機
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-212605   出願人：株式会社山本製作所
• 導電性微粒子
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-235236   出願人：積水フアインケミカル株式会社