特許
J-GLOBAL ID：200903037195735090

表面プラズモンによるイオン化を利用した質量分析

発明者：
芝本 幸平

芝本 幸平 について

, 
伊永 隆史

伊永 隆史 について

, 
名越 慶士郎

名越 慶士郎 について


出願人/特許権者：
公立大学法人首都大学東京

公立大学法人首都大学東京 について


代理人 (1件)： 小林 邦雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-249681
公開番号（公開出願番号）：特開2009-081055
出願日： 2007年09月26日
公開日（公表日）： 2009年04月16日
要約：
【課題】従来の金ナノ微粒子分散基板においては、ミクロな立場で基板表面を観察すると、表面プラズモン励起効率が非常に不均一になってしまう。例えば、金ナノ微粒子が存在する場所、存在しない場所、共鳴的に高まった場所、そうでない場所が存在する。このような不均一性は、質量分析測定において再現性を損なわせるものである。【解決手段】上記課題を解決するためには、均一な表面プラズモン励起が基板表面上で展開する必要がある。本願発明においては、粒子径の揃った金属ナノ微粒子の分散溶液を用いて、金属ナノ微粒子を2次元最密充填させることにより上記課題を解決した。【選択図】 図3
請求項（抜粋）：
レーザー脱離質量分析法において、金属微粒子を均一に分散配置した基板上に試料を付着し、該試料の付着した基板にレーザー光を照射することにより該試料をイオン化し、質量分析することを特徴とするレーザー脱離質量分析法。
IPC (3件)：
H01J 49/16 ,  G01N 27/62 ,  G01N 27/64
FI (4件)：
H01J49/16 ,  G01N27/62 G ,  G01N27/62 V ,  G01N27/64 B
Fターム (10件)：
2G041CA01 ,  2G041DA03 ,  2G041EA01 ,  2G041FA16 ,  2G041GA06 ,  2G041JA06 ,  2G041JA15 ,  5C038GG07 ,  5C038GG13 ,  5C038GH09
引用特許：
出願人引用 (2件)
  • 表面プラズモン共鳴質量分析法
    公報種別：公表公報   出願番号：特願平9-511430   出願人：ファルマシアバイオセンサーアーベー
  • 画像形成装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2006-129604   出願人：富士ゼロックス株式会社
審査官引用 (4件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM