特許
J-GLOBAL ID：200903037436298320

半田バンプ検査装置

発明者：
川田 英哉

川田 英哉 について

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服部 和敏

服部 和敏 について

, 
高橋 浩二

高橋 浩二 について


出願人/特許権者：
イビデン株式会社

イビデン株式会社 について


代理人 (1件)： 安富 康男 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-109841
公開番号（公開出願番号）：特開2001-298269
出願日： 2000年04月11日
公開日（公表日）： 2001年10月26日
要約：
【要約】【課題】 プリント配線板に形成された半田バンプの形状の良否を正確に、かつ、短時間で検査することができ、また、非破壊試験で検査することができるため、全数検査が可能で、検査の信頼性が高い半田バンプ検査装置を提供すること。【解決手段】 半田バンプが形成されたプリント配線板を載置する測定部と、上記測定部に載置されたプリント配線板の上記半田バンプに光を照射する照明部と、上記半田バンプ表面で反射した反射光を検出する検出部とを含む半田バンプ検査装置であって、上記照明部は、上記プリント配線板に側方一方向から光を照射し、上記検出部は、上記プリント配線板の上方に反射した反射光を検出するように構成されていることを特徴とする半田バンプ検査装置。
請求項（抜粋）：
半田バンプが形成されたプリント配線板を載置する測定部と、前記測定部に載置されたプリント配線板の前記半田バンプに光を照射する照明部と、前記半田バンプ表面で反射した反射光を検出する検出部とを含む半田バンプ検査装置であって、前記照明部は、前記プリント配線板に側方一方向から光を照射し、前記検出部は、前記プリント配線板の上方に反射した反射光を検出するように構成されていることを特徴とする半田バンプ検査装置。
Fターム (4件)：
5E319AC02 ,  5E319BB04 ,  5E319CD26 ,  5E319CD53
引用特許：
出願人引用 (5件)
全件表示
審査官引用 (3件)

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