回路基板検査装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：酒井伸司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-188337
公開番号（公開出願番号）：特開2001-013192
出願日： 1999年07月02日
公開日（公表日）： 2001年01月19日
要約：

【要約】【課題】各種の検査項目を短時間で行い得る回路基板検査装置を提供する。【解決手段】回路基板Pの一面Paに接触可能に配設された第1の検査用プローブ7aと、所定厚みの絶縁層が表面に形成された平板状の電極を有し絶縁層を介して回路基板Pの他面Pbに接触または近接可能に配設された静電容量測定用の電極部9とを備えている回路基板検査装置1において、回路基板Pをほぼ直立させた状態で回路基板Pにおける上下方向および左右方向のいずれか一方向の両端部をそれぞれ挟持する第1の基板挟持機構2および第2の基板挟持機構4と、回路基板Pの他面Pbに接触可能に配設された第2の検査用プローブ7bとをさらに備え、第1の検査用プローブ6aを回路基板Pの一面Paに接触させた状態で、電極部9および第2の検査用プローブ7bのいずれか選択された一方を回路基板Pの他面Pbに接触させて所定の検査を実行可能に構成した。

請求項（抜粋）：

検査対象の回路基板の一面に接触可能に配設された第1の検査用プローブと、所定厚みの絶縁層が表面に形成された平板状の電極を有し当該絶縁層を介して前記回路基板の他面に接触または近接可能に配設された静電容量測定用の電極部とを備えている回路基板検査装置において、前記回路基板をほぼ直立させた状態で当該回路基板における上下方向および左右方向のいずれか一方向の両端部をそれぞれ挟持する第1の基板挟持機構および第2の基板挟持機構と、前記回路基板の他面に接触可能に配設された第2の検査用プローブとをさらに備え、前記第1の検査用プローブを前記回路基板の前記一面に接触させた状態で、前記電極部および前記第2の検査用プローブのいずれか選択された一方を前記回路基板の他面に接触させて所定の電気的検査を実行可能に構成されていることを特徴とする回路基板検査装置。

IPC (5件)：

G01R 31/02 , G01R 1/06 , G01R 31/28 , G09F 9/00 352 , H05K 3/00

FI (5件)：

G01R 31/02 , G01R 1/06 E , G09F 9/00 352 , H05K 3/00 T , G01R 31/28 K

Fターム (27件)：

2G011AA02 , 2G011AC06 , 2G011AE01 , 2G014AA01 , 2G014AA17 , 2G014AA32 , 2G014AB59 , 2G014AC10 , 2G014AC12 , 2G032AA00 , 2G032AB02 , 2G032AD00 , 2G032AD03 , 2G032AD08 , 2G032AE02 , 2G032AE11 , 2G032AF02 , 2G032AF04 , 5G435AA00 , 5G435AA17 , 5G435KK05 , 5G435KK09 , 5G435KK10 , 9A001BB06 , 9A001JJ49 , 9A001KK54 , 9A001LL05

引用特許：

審査官引用 (7件)

プリント基板検査方法と検査装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-338530 出願人：株式会社テスコン
印刷配線板の電気検査装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-047747 出願人：日本電気株式会社
特開昭59-168375

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