特許
J-GLOBAL ID：200903037826789545
粉粒体の静電界測定方法及び装置
出願人/特許権者：
春日電機株式会社
, 春日電機株式会社 について
不二パウダル株式会社
不二パウダル株式会社 について
代理人 (1件)： 原田 信市
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-106797
公開番号（公開出願番号）：特開平11-304863
出願日： 1998年04月16日
公開日（公表日）： 1999年11月05日
要約：
【要約】【課題】 粉粒体が形成する静電電界を、容器内や配管中の電界を乱したりセンサの検出電極が帯電するというようなことなく、側壁部位においてリアルタイムで的確に測定でき、しかも精度の高い電界測定値が得られるようにする。【解決手段】 容器や配管の壁に擬した接地金属平板C1’の検出口C2’に静電界センサAを臨ませるとともに、該静電界センサに対して、金属平板に直流高電圧を印加した模擬帯電物体C2を平行に対向させ、これら金属平板間に平等電界を形成した状態で電界測定装置Bの増幅器51の増幅率を調整することにより校正した後、該静電界センサを容器の壁の検出口に臨ませて、粉粒体が形成する静電電界を実測する。
請求項（抜粋）：
粉粒体が形成する静電界を、容器等の壁に設けられた検出口を通じて静電界センサにより測定する方法であって、前記容器等の壁に擬した接地金属平板の検出口に前記静電界センサを臨ませるとともに、該静電界センサに対して、金属平板に直流高電圧を印加した模擬帯電物体を平行に対向させ、これら金属平板間に平等電界を形成した状態で静電界センサの検出値を校正した後、該静電界センサを前記容器等の壁の検出口に臨ませて、粉粒体が形成する静電界を測定することを特徴とする粉粒体の静電界測定方法。
IPC (3件)：
FI (3件)：
引用特許：
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