特許
J-GLOBAL ID：200903038139485800
試験対象装置、試験システム、テスト方法及びプログラム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
大菅 義之
, ▲徳▼永 民雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-092765
公開番号（公開出願番号）：特開2009-245292
出願日： 2008年03月31日
公開日（公表日）： 2009年10月22日
要約：
【課題】本発明は、不揮発メモリ、入力部、表示部に不良があってもテストを行える試験対象装置、試験システム、テスト方法及びプログラムを提供することを課題とする。【解決手段】 試験対象装置1に接続されたダウンロード用PC2から、内蔵メモリ5にテストプログラム8をダウンロードすると共にテストプログラム8を起動する。これにより不揮発メモリ4にプログラムを書き込むことができない試験対象装置1に対して試験を行なうことが出来る。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
テストプログラムに基づいて、自身のテストを実行する試験対象装置において、
外部装置から前記テストプログラムをダウンロードするためのプログラムが記録された記憶部と、
外部装置との通信を行う通信部と、
前記ダウンロードするためのプログラムを起動して、前記通信部を介して前記外部装置からダウンロードされるテストプログラムを前記記憶部に格納すると共に、前記テストプログラムを動作させて前記情報処理装置のテストを実行する処理部と
を備えたことを特徴とする試験対象装置。
IPC (3件)：
G06F 11/22
, G05B 23/02
, H04M 1/24
G06F11/22 310R
, G05B23/02 V
, H04M1/24 B
5B048DD08
, 5H223CC08
, 5H223DD03
, 5H223EE15
, 5H223EE19
, 5K027AA11
, 5K027BB04
, 5K027FF22
, 5K027HH26
, 5K027LL02
, 5K027MM04
, 5K027MM17
