特許

J-GLOBAL ID：200903038172303695

分子分析光検出方法およびそれに用いられる分子分析光検出装置、並びにサンプルプレート

発明者： 木村 俊仁
出願人/特許権者： 富士フイルム株式会社
代理人 (2件)： 柳田 征史 ,  佐久間 剛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-248671
公開番号（公開出願番号）：特開2009-079970
出願日： 2007年09月26日
公開日（公表日）： 2009年04月16日
要約：

【課題】極めて高感度で分析光を検出可能な分子分析光検出装置を安価に構成する。【解決手段】被分析物質Aを含む試料Sと接触する試料接触面10aの微小な所定領域に、所定の励起光L0が照射された場合に、該所定領域上において該試料接触面10aの他の領域上と比較して被分析物質から生じる光を増強させる増強場を生じさせる増強部材12を備えたサンプルプレート10と、励起光L0を、増強部材12が備えられた所定領域を含みその所定領域より大きい照射領域に照射する励起光照射光学系20と、増強場により増強された被分析物質から生じる光のゆらぎを検出する信号検出部30とから分子分析光検出装置を構成する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

被分析物質を含む試料と接触する試料接触面の微小な所定領域に、所定の励起光が照射された場合に、該所定領域上において該試料接触面の他の領域上と比較して前記被分析物質から生じる光を増強させる増強場を生じさせる増強部材を備えたサンプルプレートを用意し、 前記所定の励起光を、前記試料接触面の前記所定領域を含む該所定領域より大きい照射領域に照射し、 前記所定の励起光の照射により生じた前記増強場により増強された前記被分析物質から生じる光のゆらぎを検出することを特徴とする分子分析光検出方法。

IPC (2件)：

G01N 21/64 ,  G01N 21/65

FI (3件)：

G01N21/64 G ,  G01N21/64 F ,  G01N21/65

Fターム (20件)：

2G043BA16 ,  2G043CA03 ,  2G043DA02 ,  2G043DA05 ,  2G043DA06 ,  2G043EA01 ,  2G043FA03 ,  2G043FA07 ,  2G043GA07 ,  2G043GB02 ,  2G043GB05 ,  2G043GB16 ,  2G043HA01 ,  2G043HA08 ,  2G043HA09 ,  2G043JA02 ,  2G043KA02 ,  2G043KA05 ,  2G043KA09 ,  2G043LA01

引用特許：

出願人引用 (3件)

• 特公表2001-502062号公報
  
• エバネッセント照明を用いる分子蛍光解析方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-097879   出願人：オリンパス光学工業株式会社
• 顕微鏡装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-269331   出願人：株式会社分子バイオホトニクス研究所

審査官引用 (3件)

• プラズモン共鳴および蛍光の同時イメージング装置及びイメージング方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2005-023517   出願人：キヤノン株式会社
• 金属ナノ構造に吸着した化学種の単一分子感度での検出法およびその状態分析法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2006-005501   出願人：独立行政法人産業技術総合研究所
• 光集中機構のための方法、システムおよび装置
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2009-528531   出願人：アプライドバイオシステムズ,エルエルシー