粒子分析装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (8件)：中村稔 , 大塚文昭 , 熊倉禎男 , 宍戸嘉一 , 小川信夫 , 村社厚夫 , 西島孝喜 , 箱田篤
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-064290
公開番号（公開出願番号）：特開2008-191163
出願日： 2008年03月13日
公開日（公表日）： 2008年08月21日
要約：

【課題】高い粒子選択性を有する粒子分析器の提供。【解決手段】分析されるべき標識された粒子が、吊り下げられた毛管を通して吸い込まれ、毛管中の所定の容積が照明される粒子分析装置。前記粒子によって散乱された照明は、全ての粒子を計数するために、検出器によって検出される。放出された蛍光照明は、標識された粒子によって検出され、蛍光検出器及び散乱検出器からの出力信号は、粒子の分析を提供するように処理される。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

第1端及び第2端を有し、前記第1端が、分析されるべき粒子を含む試料流体中への直接挿入できるように、吊り下げられるように構成されている毛管と、光源と、前記光源からの光を受けてこれを集束させ、ビームを形成して、そのビームを前記毛管に向け、前記毛管内に分析領域を構成する光学系と、前記毛管の第2端に接続されたポンプであって、ある体積の前記試料流体を、前記第1端を通して前記毛管内へ吸い込み、前記分析領域を通過させるように構成されているポンプと、前記ビームによって励起された粒子によって放出された蛍光を検出する少なくとも一つの第1検出器と、を備え、前記試料流体が前記第1端から前記第2端まで前記毛管の中を流れるときに、前記試料流体中の粒子の濃度は実質的に一定のままである、粒子分析装置。

IPC (3件)：

G01N 15/14 , G01N 21/49 , G01N 21/64

FI (4件)：

G01N15/14 D , G01N21/49 Z , G01N21/64 F , G01N15/14 A

Fターム (31件)：

2G043AA01 , 2G043AA04 , 2G043BA16 , 2G043CA04 , 2G043DA01 , 2G043DA05 , 2G043EA01 , 2G043EA14 , 2G043FA06 , 2G043GA07 , 2G043GB18 , 2G043GB28 , 2G043HA01 , 2G043HA09 , 2G043JA02 , 2G043KA02 , 2G043KA05 , 2G043KA09 , 2G043LA02 , 2G043LA03 , 2G059AA01 , 2G059BB13 , 2G059BB14 , 2G059CC16 , 2G059DD12 , 2G059EE02 , 2G059GG01 , 2G059HH02 , 2G059JJ11 , 2G059JJ30 , 2G059KK01

引用特許：

審査官引用 (28件)

特開平1-240839
特開平1-240839
フローセル装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-344577 出願人：キヤノン株式会社

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