特許
J-GLOBAL ID：200903038228099000
非接触画像計測システム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
伊丹 勝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-280784
公開番号（公開出願番号）：特開平11-118444
出願日： 1997年10月14日
公開日（公表日）： 1999年04月30日
要約：
【要約】【課題】 形状が未知又は変化する物体に対しても柔軟にエッジ追跡を行って必要な計測情報を抽出すると共に、抽出されたエッジの点列データを有効に活用して、被測定対象の輪郭形状評価を行うことを可能にする。【解決手段】 測定範囲指定部41は、被測定対象の画像に含まれる測定すべきエッジの範囲を指定するために設けられる。エッジ抽出部42は、測定範囲指定部41で指定された範囲のエッジを追跡しながらエッジの点列情報を順次抽出する。このエッジ情報抽出手段で抽出されたエッジの形状を評価するための形状評価種別を指定するための形状評価種別指定部44と、エッジ抽出部42で抽出されたエッジの点列情報に対して形状評価種別指定部44で指定された形状評価処理を実行する形状評価部45とが備えられている。
請求項（抜粋）：
被測定対象を撮像する撮像手段と、この撮像手段で撮像された前記被測定対象の画像を記憶する画像記憶手段と、この画像記憶手段に記憶された前記被測定対象の画像を表示する表示手段と、この表示手段に表示された被測定対象の画像に含まれる測定すべきエッジの範囲を指定する測定範囲指定手段と、この測定範囲指定手段で指定された範囲のエッジを追跡しながら前記エッジの点列情報を順次抽出するエッジ情報抽出手段と、このエッジ情報抽出手段で抽出されたエッジの形状を評価するための形状評価種別を指定する形状評価種別指定手段と、前記エッジ情報抽出手段で抽出されたエッジの点列情報に対して前記形状評価種別指定手段で指定された形状評価処理を実行する形状評価手段とを備えたことを特徴とする非接触画像計測システム。
IPC (3件)：
G01B 11/24
, G06T 7/00
, G06T 9/20
G01B 11/24 K
, G06F 15/62 400
, G06F 15/70 340
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (2件)
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