特許
J-GLOBAL ID：200903038654980066

発光ドットの光量測定および光量補正方法、および、プリンタ用光源

発明者：
井上 和

井上 和 について


出願人/特許権者：
双葉電子工業株式会社

双葉電子工業株式会社 について


代理人 (1件)： 脇 篤夫 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-165629
公開番号（公開出願番号）：特開平11-010942
出願日： 1997年06月23日
公開日（公表日）： 1999年01月19日
要約：
【要約】【課題】 ライン光源における複数の発光ドットの光量分布を測定することができる発光ドットの光量測定方法を提供する。【解決手段】 1つの発光ドットから放射される光は、輝度ムラがあるだけでなく、自らが露光すべき領域1ドットの範囲を越えて、さらに隣接する発光ドットが露光すべき領域にまで光が漏れて干渉している。したがって、それぞれの発光ドット1の領域の露光量は、対象発光ドットとその左右に隣接する1つのドットの計3ドットの影響を受ける。したがって、光電子増倍管を用いた光量測定による光量補正では補正しきれない。光プリンタ用ライン光源について、領域iのある発光ドット1から、副走査方向に隣接する発光ドットが露光すべき左右の領域への発光漏れを測定するために、イメージセンサを用いて光量分布測定を行う。
請求項（抜粋）：
1または複数の列に配置された複数の発光ドットを備えるライン光源における前記発光ドットの各光量を測定する発光ドットの光量測定方法であって、イメージセンサを用いて、発光中の発光ドット自体の発光ドット領域に属する光量および隣接する隣接発光ドット領域に属する光量を、前記全発光ドットに対して測定することを特徴とする発光ドットの光量測定方法。
IPC (5件)：
B41J 2/44 ,  B41J 2/45 ,  B41J 2/455 ,  G01J 1/42 ,  H01J 31/15
FI (3件)：
B41J 3/21 L ,  G01J 1/42 D ,  H01J 31/15 Z
引用特許：
審査官引用 (4件)
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