特許
J-GLOBAL ID：200903039002032391
平面磁界測定システム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
若林 忠
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-298678
公開番号（公開出願番号）：特開平10-142275
出願日： 1996年11月11日
公開日（公表日）： 1998年05月29日
要約：
【要約】【課題】 被測定回路基板上の強磁界箇所の特定には、視覚判断では時間を要し、微小箇所特定に限界も生じる。特に最近の高集積度の回路基板では、強磁界箇所特定が困難となっている。【解決手段】 回路基板設計用コンピュータを接続させた平面磁界測定システムにおいて、被測定回路基板2からの近傍磁界は磁界プローブ3で検出され、スペクトラムアナライザー7にて検出レベル表示される。平面磁界測定用コンピュータ12では、磁界プローブ3の位置情報10と回路基板設計情報17の座標整合を行い、回路基板データ上のプローブ位置を設定する。表示部14上には回路基板データ上に近傍磁界分布が表示され、強磁界箇所の認識が可能となる。
請求項（抜粋）：
回路基板上の平面座標を指定する制御信号に応答して移動する磁界プローブによって、該回路基板で発生する近傍磁界を検出し、前記制御信号によって指定される回路基板上の各平面座標に対応する、近傍磁界の分布情報を作成する平面磁界測定システムにおいて、回路基板上の回路要素および回路パターンの幾何学的配置を記述する位置情報を回路基板設計情報として出力する回路基板設計用コンピュータと、前記回路基板設計情報に記述されている位置情報と、前記制御信号によって指定される平面座標とを対応づける座標整合処理を行い、前記回路基板設計情報に対応する近傍磁界の分布情報を作成する平面磁界測定用コンピュータとを有することを特徴とする平面磁界測定システム。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01R 29/08 D
, G01R 33/10
