特許
J-GLOBAL ID：200903039215028983
試験装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高橋 英生 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-053335
公開番号（公開出願番号）：特開2001-242055
出願日： 2000年02月29日
公開日（公表日）： 2001年09月07日
要約：
【要約】【課題】 非線形ひずみを取り除いて、試験の信頼性を向上させる。【解決手段】 関数発生器1からの試料に印加する加速度に対応する波形信号Eiは、積分手段2により2回積分されて変位次元の信号に変換され、試験機部10の伝達関数と逆特性の伝達関数を有するフィルタ部3を介して減算器5に入力される。関数発生器1からの入力と試料の加速度を検出する加速度センサ20の出力との差である誤差信号を減算器6で検出し、積分手段7および前記フィルタ部3と同一の特性を有するフィルタ部8を介して、ひずみ補正要素発生部9に入力する。ひずみ補正要素発生部9は前記誤差信号に所定の係数を乗じて、積算する。減算器5で前記第1のフィルタ部3の出力から前記ひずみ補正要素発生部9の出力を減算して、非線形ひずみを取り除いた入力信号を試験機部10に入力する。
請求項（抜粋）：
所定の繰り返し周期を有する波形信号を発生する波形発生手段と、試料を加振する変位フィードバック制御の試験機部と、前記試験機部の伝達関数をHとしたときに1/Hに相当する伝達関数を有する第1のフィルタ部と、前記波形信号に対応する前記試験機部の出力と前記波形発生手段の出力との差を検出する第1の減算器と、該第1の減算器の出力が入力され、前記第1のフィルタ部と同一の伝達関数を有する第2のフィルタ部と、前記所定の繰り返し周期に対応する前記第2のフィルタ部の出力を積算するひずみ補正要素発生部と、前記第1のフィルタ部の出力から前記ひずみ補正要素発生部の出力を減算して、前記試験機部に出力する第2の減算器とを有することを特徴とする試験装置。
Fターム (8件)：
2G061AA02
, 2G061AB05
, 2G061DA03
, 2G061EA02
, 2G061EA03
, 2G061EA04
, 2G061EA09
, 2G061EB03
