三次元形状計測装置及び三次元形状計測方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：中井潤
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-331394
公開番号（公開出願番号）：特開2008-145209
出願日： 2006年12月08日
公開日（公表日）： 2008年06月26日
要約：

【課題】物体の三次元形状を迅速に精度良く計測する。【解決手段】物体2に正弦波状の光パターンを投射するとともに、光パターンが投射された物体2を撮影し、その撮影画像に基づいて物体2の三次元形状を計測する三次元形状計測装置であって、短波長の光パターン20及び長波長の光パターン30の各々を物体2に投射するプロジェクタ3と、短波長の光パターン20及び長波長の光パターン30が投射された物体2を撮影するカメラ4と、カメラ4で撮影された画像に基づいて、短波長の光パターン20の相対位相及び長波長の光パターン30の相対位相を算出し、算出した長波長の光パターン30の相対位相に基づいて、短波長の光パターン20の相対位相と絶対位相との間のオフセット値を求め、該オフセット値と、算出した短波長の光パターン20の相対位相とに基づいて、物体2までの距離Zを求める制御部5とを備えることを特徴とする。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

物体に正弦波状の光パターンを投射するとともに、前記光パターンが投射された物体を撮影し、その撮影画像に基づいて前記物体の三次元形状を計測する三次元形状計測装置であって、第1波長を有する第1光パターン及び前記第1波長より長い第2波長を有する第2光パターンの各々を前記物体に投射する投射手段と、前記第1光パターン及び前記第2光パターンが投射された物体を撮影する撮影手段と、前記撮影手段で撮影された画像に基づいて前記第1光パターン及び前記第2光パターンの相対位相を算出する位相算出手段と、前記位相算出手段によって算出された前記第2光パターンの相対位相に基づいて前記第1光パターンの相対位相と絶対位相との間のオフセット値を求め、該オフセット値と、前記位相算出手段によって算出された前記第1光パターンの相対位相とに基づいて前記物体までの距離を求める位相接続手段とを備えることを特徴とする三次元形状計測装置。

IPC (5件)：

G01B 11/25 , G01B 11/00 , G01C 3/06 , G01S 17/48 , G06T 1/00

FI (5件)：

G01B11/25 H , G01B11/00 H , G01C3/06 110A , G01S17/48 , G06T1/00 315

Fターム (58件)：

2F065AA04 , 2F065AA06 , 2F065AA20 , 2F065AA53 , 2F065DD06 , 2F065FF04 , 2F065FF09 , 2F065FF43 , 2F065HH01 , 2F065HH06 , 2F065HH07 , 2F065JJ03 , 2F065JJ26 , 2F065LL18 , 2F065LL41 , 2F065NN01 , 2F065QQ24 , 2F065QQ25 , 2F065QQ27 , 2F065QQ28 , 2F065QQ31 , 2F065QQ38 , 2F065RR09 , 2F112AA09 , 2F112CA08 , 2F112CA12 , 2F112CA13 , 2F112DA13 , 2F112DA32 , 2F112EA07 , 2F112FA03 , 2F112FA21 , 2F112FA35 , 2F112FA38 , 2F112GA01 , 5B057BA02 , 5B057CA08 , 5B057CA12 , 5B057CA16 , 5B057CH07 , 5B057CH08 , 5B057DA07 , 5B057DC09 , 5J084AA04 , 5J084AA05 , 5J084AA13 , 5J084AD07 , 5J084BA13 , 5J084BA40 , 5J084CA65 , 5J084CA66 , 5J084CA67 , 5J084CA68 , 5J084CA70 , 5J084DA01 , 5J084DA07 , 5J084DA08 , 5J084DA09

引用特許：

出願人引用 (1件)

特許第3199041号公報

審査官引用 (5件)

位相計測システム
公報種別：公開公報出願番号：特願2004-179829 出願人：コニカミノルタセンシング株式会社
三次元形状計測方法及びその装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平11-342026 出願人：松下電器産業株式会社
外観計測装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2003-012221 出願人：株式会社ニッケ機械製作所

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