特許

J-GLOBAL ID：200903013775140887

三次元形状計測方法及びその装置

発明者： 高田 雄二 ,  松尾 英明 ,  今川 和幸 ,  大橋 健
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 平野 一幸
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-342026
公開番号（公開出願番号）：特開2001-159510
出願日： 1999年12月01日
公開日（公表日）： 2001年06月12日
要約：

【要約】【課題】 位相シフト法による周期不定性の悪影響を排除する。【解決手段】 正弦波状の周期関数に従う光強度パターンを、位相をずらしながら対象に照射し、これを撮像した撮像結果に基づいて、対象の三次元形状を計測する。互いに波長が異なる周期関数に従う複数の光強度パターンを、それぞれの光強度パターンが互いに干渉しないように対象に投射する。これら各周期関数の波長の最小公倍数が、撮像領域中で周期不定性を持つ範囲よりも大きく設定されている。

請求項（抜粋）：

周期関数に従う光強度パターンを、位相をずらしながら対象に照射し、これを撮像した撮像結果に基づいて、対象の三次元形状を計測する三次元形状計測方法であって、互いに波長が異なる周期関数に従う複数の光強度パターンを、それぞれの光強度パターンが互いに干渉しないように対象に投射すると共に、これら各周期関数の波長の最小公倍数が、一定領域中で周期不定性を持つ範囲よりも大きく設定されていることを特徴とする三次元形状計測方法。

IPC (2件)：

G01B 11/24 ,  G01B 11/00

FI (2件)：

G01B 11/00 H ,  G01B 11/24 K

Fターム (17件)：

2F065AA04 ,  2F065AA06 ,  2F065AA53 ,  2F065FF04 ,  2F065FF09 ,  2F065GG23 ,  2F065HH07 ,  2F065JJ03 ,  2F065LL21 ,  2F065LL67 ,  2F065NN05 ,  2F065NN08 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ26 ,  2F065QQ27 ,  2F065QQ28

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 物体の三次元形状計測方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-192452   出願人：富士ファコム制御株式会社, 富士電機株式会社
• 3次元計測方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-221186   出願人：シャープ株式会社
• 3次元形状測定方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-050566   出願人：株式会社オプトン
• 形状計測装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-128889   出願人：佐藤幸男