眼科測定装置

発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-169321
公開番号（公開出願番号）：特開2005-348755
出願日： 2004年06月08日
公開日（公表日）： 2005年12月22日
要約：

【課題】一台にて眼の種々の生体情報を測定・取得できる眼科測定装置を提供する。【解決手段】被検眼の屈折力と眼軸長を非接触にて測定する眼科測定装置において、被検眼に向けて低コヒーレント長の光を照射する測定光照射光学系と、被検眼に向けて照射した低コヒーレント長の光による被検眼眼底からの反射光を受光する受光光学系と、受光光学系にて受光した反射光の受光状態に基づいて被検眼の屈折力を求める屈折力測定手段と、低コヒーレント長の光の照射によって得られる被検眼の前眼部からの反射光を参照光とする参照光照射光学系と、参照光照射光学系によって得られる参照光と測定光照射光学系によって得られる被検眼眼底からの反射光とを合成して干渉させ,得られた干渉光を周波数成分に分光して受光する干渉光学系と、干渉光学系にて得られる受光信号に基づいて被検眼の生体内寸法を測定する生体内寸法測定手段と、を備える。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

被検眼の屈折力と眼軸長を非接触にて測定する眼科測定装置において、被検眼に向けて低コヒーレント長の光を照射する測定光照射光学系と、被検眼に向けて照射した前記低コヒーレント長の光による被検眼眼底からの反射光を受光する受光光学系と、受光光学系にて受光した前記反射光の受光状態に基づいて被検眼の屈折力を求める屈折力測定手段と、前記低コヒーレント長の光の照射によって得られる前記被検眼の前眼部からの反射光を参照光とする参照光照射光学系と、該参照光照射光学系によって得られる参照光と前記測定光照射光学系によって得られる前記被検眼眼底からの反射光とを合成して干渉させ,得られた干渉光を周波数成分に分光して受光する干渉光学系と、該干渉光学系にて得られる受光信号に基づいて被検眼の生体内寸法を測定する生体内寸法測定手段と、を備えることを特徴とする眼科測定装置。

IPC (1件)：

A61B3/10

FI (3件)：

A61B3/10 Z , A61B3/10 M , A61B3/10 R

引用特許：

出願人引用 (1件)

被測定眼寸法測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-048523 出願人：株式会社トプコン

審査官引用 (7件)

被測定眼寸法測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-048523 出願人：株式会社トプコン
特開平4-096727
特開平3-030752

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