特許
J-GLOBAL ID:200903040828232093
貴金属の研磨のための化学的活性スラリーおよびその研磨方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
山本 秀策
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-221783
公開番号(公開出願番号):特開2000-230170
出願日: 1999年08月04日
公開日(公表日): 2000年08月22日
要約:
【要約】貴金属表面を研磨するためのスラリーおよびCMP工程を提供する。【課題】【解決手段】 貴金属を研磨するための化学的活性スラリーは、強塩基性水溶液中のハロゲン元素と、研磨剤とを含み、得られたスラリーが、従来の化学的機械的研磨(CMP)装置を用いて貴金属を研磨するために使用される。
請求項(抜粋):
貴金属を研磨するための化学的活性スラリーであって、強塩基性水溶液中のハロゲン元素と、研磨剤とを含み、得られたスラリーが、従来の化学的機械的研磨(CMP)装置を用いて貴金属を研磨するために使用される、化学的活性スラリー。
IPC (5件):
C09K 3/14 550
, B24B 37/00
, H01L 21/304 622
, H01L 27/04
, H01L 21/822
FI (4件):
C09K 3/14 550 Z
, B24B 37/00 H
, H01L 21/304 622 D
, H01L 27/04 C
Fターム (9件):
3C058AA07
, 3C058AC04
, 3C058CB10
, 3C058DA02
, 3C058DA12
, 3C058DA17
, 5F038AC05
, 5F038AC11
, 5F038EZ20
引用特許:
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