特許
J-GLOBAL ID:200903041226118245
電子ビーム描画方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
山本 孝久
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-249125
公開番号(公開出願番号):特開平10-074690
出願日: 1996年08月30日
公開日(公表日): 1998年03月17日
要約:
【要約】【課題】電子ビームのぼけによって所望のパターンをレジスト材料に形成できなくなる現象を回避し得る電子ビーム描画方法を提供する。【解決手段】電子ビームをレジスト材料に照射して、所望のパターンを該レジスト材料に描画する電子ビーム描画方法であって、レジスト材料を照射する電子ビームの寸法と、電子光学系の収差に起因した電子ビームのぼけ量との関係に基づき、最適電子ビーム照射量を予め求めておき、レジスト材料に描画すべきパターンの寸法に応じて、該求められた最適電子ビーム照射量の電子ビームをレジスト材料に照射する。
請求項(抜粋):
電子ビームをレジスト材料に照射して、所望のパターンを該レジスト材料に描画する電子ビーム描画方法であって、レジスト材料を照射する電子ビームの寸法と、電子光学系の収差に起因した電子ビームのぼけ量との関係に基づき、最適電子ビーム照射量を予め求めておき、レジスト材料に描画すべきパターンの寸法に応じて、該求められた最適電子ビーム照射量の電子ビームをレジスト材料に照射することを特徴とする電子ビーム描画方法。
IPC (3件):
H01L 21/027
, G03F 7/20 504
, G03F 7/20 521
FI (3件):
H01L 21/30 541 M
, G03F 7/20 504
, G03F 7/20 521
引用特許:
審査官引用 (7件)
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特開平4-340216
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電子ビーム描画方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-079117
出願人:株式会社東芝
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特開平4-278516
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特開平2-194617
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荷電粒子ビーム露光方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-218077
出願人:富士通株式会社
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荷電粒子ビーム描画方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-079862
出願人:日本電子株式会社
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特開平2-278712
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