特許

J-GLOBAL ID：200903041366755075

回転可能な一次コリメータを含むX線分析装置

発明者： ファン デン ホーゲンホフ,ヴァルテルス ヴィルヘルムス ,  デ ランゲ,ロエロフ ,  デ ボエル,ディルク コルネリス ゲルハルドゥス ,  ファン デア,スルイス,パウル
出願人/特許権者： フィリップス エレクトロニクス エヌ ベー
代理人 (1件)： 伊東 忠彦 (外1名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-525025
公開番号（公開出願番号）：特表平11-502312
出願日： 1996年12月11日
公開日（公表日）： 1999年02月23日
要約：

【要約】好ましくは蛍光管として構成される唯一のX線管(2)によりX線回折と同様にX線蛍光を測定する装置を提供する。管とサンプル(12)との間に管(2)のX線焦点を通る(仮想)軸(44)について回転可能な一次コリメータ(40)(ソーラースリットユニット)が配置され、それによりサンプルへの入射νの角度がコリメータの回転により変化されうる。回折検出チャンネル(50、52、56)が固定された位置を占める故にνスキャンはコリメータ(40)の回転により達成される。結果として検出器(56)及び波長検出結晶(52)用の関連する駆動装置を有する(比較的重く高価な)ゴニオメーターを装置の回折部分に装着する必要はない。

請求項（抜粋）：

* 検査される資料のサンプル(10)を収容するサンプル位置(12)と、* X線によりサンプル位置を照射するX線源(2)と、* X線源とサンプル位置との間に配置され、サンプルに関してその方向が変化されうる平行化一次コリメータ(40)と、* サンプルから出射する回折された放射(20)を検出する検出器(22)とを含むX線回折により資料を検査する装置であって、* 回折測定の実施中にX線ビームに対して横断方向に延在する軸(44)に関して一次コリメータ(40)の方向を連続的に変化させる制御手段(42)を含み、* 検出器(22)は回折測定の実施中にサンプル(10)とX線源(2)に関して固定された位置に存在することを特徴とする装置。

IPC (2件)：

G01N 23/20 ,  G01N 23/223

FI (2件)：

G01N 23/20 ,  G01N 23/223

引用特許：

審査官引用 (4件)

• X線分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-305785   出願人：ファイソンズ・ピーエルシー
• X線回折装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-224019   出願人：株式会社マックサイエンス
• 特開平3-186743
  
• 放射分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-114901   出願人：エヌ・ベー・フイリツプス・フルーイランペンフアブリケン