特許
J-GLOBAL ID:200903041831969605
ショットキーバリアダイオードおよび半導体モジュール
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
青山 葆 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-286935
公開番号(公開出願番号):特開2002-100784
出願日: 2000年09月21日
公開日(公表日): 2002年04月05日
要約:
【要約】【課題】 ショットキー界面の構造が変化しないダイオード等を提供する。【解決手段】 一方の面に凹凸が付されたアノード電極と、アノード電極の他方の面の第1の領域に接合されたp型半導体層と、アノード電極の他方の面の第2の領域に接合されたn型半導体層と、カソード電極とを備えたショットキーバリアダイオードであって、アノード電極の凸部分が、p型半導体層の上に位置するよう配置されているショットキーバリアダイオード等を提供する。
請求項(抜粋):
一方の面に凹凸が付されたアノード電極と、前記アノード電極の他方の面の第1の領域に接合されたp型半導体層と、前記アノード電極の他方の面の第2の領域に接合されたn型半導体層と、カソード電極とを備えたショットキーバリアダイオードであって、前記アノード電極の凸部分が、前記p型半導体層の上に位置するよう配置されているショットキーバリアダイオード。
IPC (3件):
H01L 29/872
, H01L 23/58
, H01L 29/93
FI (4件):
H01L 29/93 S
, H01L 29/48 F
, H01L 23/56 C
, H01L 29/48 D
Fターム (6件):
4M104AA01
, 4M104AA03
, 4M104CC03
, 4M104FF06
, 4M104FF09
, 4M104HH20
引用特許:
審査官引用 (3件)
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半導体装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-102087
出願人:富士電機株式会社
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ショットキーバリア半導体装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-228454
出願人:ローム株式会社
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SiCショットキーダイオード
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-284780
出願人:株式会社日立製作所, 関西電力株式会社
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