特許
J-GLOBAL ID：200903042585820059

診断支援装置

発明者：
西村 博一

西村 博一 について


出願人/特許権者：
オリンパス光学工業株式会社

オリンパス光学工業株式会社 について


代理人 (1件)： 伊藤 進
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-365855
公開番号（公開出願番号）：特開2002-165757
出願日： 2000年11月30日
公開日（公表日）： 2002年06月11日
要約：
【要約】【課題】 内視鏡画像においてどのような所見、あるいは所見に関連して診断される腫瘍等が存在しているか、さらにはそれらがどのような割合で混在しているかを知る。【解決手段】 診断支援処理実行プログラム80は、画像入力・管理ブロック81、 データベース管理ブロック82、仮ROI設定ブロック83,特徴量算出ブロック84、ROI設定ブロック8 5、 判別分類ブロック86、レポート作成ブロック87及び画像処理ブロック88からなっている。
請求項（抜粋）：
被検体を撮像した撮像信号に基づき特徴量を算出する特徴量算出手段と、前記特徴量算出手段から出力される前記撮像信号の各画素に対応した複数の特徴量データに基づき前記撮像信号が形成する画像の領域を抽出する画像領域抽出手段と、前記画像領域抽出手段で抽出される画像領域に対応した前記複数の特徴量データに基づき病変の判別分類を行う判別分類手段と、前記判別分類手段の判別分類結果を表示する表示手段とを備えたことを特徴とする診断支援装置。
IPC (5件)：
A61B 1/04 370 ,  G02B 23/24 ,  G06T 1/00 290 ,  G06T 7/60 150 ,  H04N 7/18
FI (7件)：
A61B 1/04 370 ,  G02B 23/24 B ,  G02B 23/24 C ,  G06T 1/00 290 Z ,  G06T 7/60 150 J ,  H04N 7/18 M ,  H04N 7/18 K
Fターム (44件)：
2H040BA00 ,  2H040GA01 ,  2H040GA02 ,  2H040GA10 ,  2H040GA11 ,  4C061CC06 ,  4C061HH51 ,  4C061LL01 ,  4C061WW08 ,  4C061YY13 ,  5B057AA07 ,  5B057BA11 ,  5B057CE02 ,  5B057CE09 ,  5B057CH08 ,  5B057DA03 ,  5B057DA12 ,  5B057DA16 ,  5B057DB02 ,  5B057DB06 ,  5B057DB09 ,  5B057DC04 ,  5B057DC25 ,  5B057DC36 ,  5C054CC07 ,  5C054EA01 ,  5C054EA05 ,  5C054FC12 ,  5C054FC15 ,  5C054FE09 ,  5C054HA12 ,  5L096AA02 ,  5L096AA06 ,  5L096BA06 ,  5L096CA04 ,  5L096EA05 ,  5L096EA35 ,  5L096FA32 ,  5L096FA33 ,  5L096FA59 ,  5L096GA40 ,  5L096GA55 ,  5L096JA11 ,  5L096JA22
引用特許：
審査官引用 (8件)
  • 診断支援装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-157080   出願人：オリンパス光学工業株式会社
  • 画像処理装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-031552   出願人：東芝メディカルエンジニアリング株式会社, 株式会社東芝
  • 濃淡画像用特定部位抽出方法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-239243   出願人：オリンパス光学工業株式会社
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM