特許
J-GLOBAL ID：200903043005028929
スキャン・チェーン・リオーダ情報の取得方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
酒井 昭徳
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-241374
公開番号（公開出願番号）：特開2003-050834
出願日： 2001年08月08日
公開日（公表日）： 2003年02月21日
要約：
【要約】【課題】 配置配線処理においてより最適なスキャン・チェーン・リオーダをおこなうことが可能なスキャン・チェーン・リオーダ情報を取得すること。【解決手段】 スキャン・チェーン・リオーダ情報に、スキャン・チェーンの始点と終点を定義した情報、スキャン・チェーン上のセルの順番と、各セルの固有名および端子名を定義した情報、スキャン・チェーン上のスキャン・フリップフロップのクロック・ドメインと極性を定義した情報、並びにスキャン・チェーン・リオーダ可否情報を定義した情報を含める。それによって、スキャン・チェーン内のリオーダ対象の検索を容易にし、セルの抜けやスキャン・イン(SI)およびスキャン・アウト(SO)の機能の間違いを防ぎ、データの突き抜けや正常値をラッチできないという不具合を回避し、ソフトマクロ内のセルのリオーダを禁止する。
請求項（抜粋）：
スキャン合成前のネットリストに基づいてスキャン合成をおこない、スキャン・チェーンの始点と終点を定義した情報を取得することを特徴とするスキャン・チェーン・リオーダ情報の取得方法。
IPC (2件)：
G06F 17/50 654
, G01R 31/28
G06F 17/50 654 N
, G01R 31/28 F
, G01R 31/28 G
2G132AA00
, 2G132AB02
, 2G132AC11
, 2G132AC14
, 2G132AL11
, 5B046AA08
, 5B046BA03
