特許
J-GLOBAL ID:200903043284449351

応力-ひずみ検出システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 白崎 真二 ,  阿部 綽勝
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-289433
公開番号(公開出願番号):特開2007-101278
出願日: 2005年09月30日
公開日(公表日): 2007年04月19日
要約:
【課題】本発明の目的は、システム構築を容易に行うことができ、信頼性が高く、消費電力が小さく、且つノイズの発生等の影響を受けにくい、広範囲・広域に計測できる応力-ひずみ検出システムを提供すること。【解決手段】構造物3に発生した応力-ひずみを検出する応力-ひずみ検出システムであって、前記構造物3に応力発光材料4が適用され、前記構造物上又は前記構造物の近傍に、前記構造物に応力-ひずみが発生した時に前記応力発光材料4から放射された放射光を受光し光電変換する受光手段8と、該受光手段8からの電気信号を処理する信号処理手段11と、前記電気信号を電波に変換して発信する送信手段12と、を有するノード5が設けられた応力-ひずみ検出システム。【選択図】図12
請求項(抜粋):
構造物に発生した応力-ひずみを検出する応力-ひずみ検出システムであって、 前記構造物に応力発光材料が適用され、 前記構造物上又は前記構造物の近傍に、 前記構造物に応力-ひずみが発生した時に前記応力発光材料から放射された放射光を受光し光電変換する受光手段と、 該受光手段からの電気信号を処理する信号処理手段と、 前記電気信号を電波に変換して発信する送信手段と、 を有するノードが設けられたことを特徴とする応力-ひずみ検出システム。
IPC (1件):
G01L 1/00
FI (1件):
G01L1/00 B
引用特許:
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (3件)

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