特許
J-GLOBAL ID：200903044242773902
外観検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
久留 徹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-079488
公開番号（公開出願番号）：特開2007-256017
出願日： 2006年03月22日
公開日（公表日）： 2007年10月04日
要約：
【課題】外部検査装置全体を小さくするとともに、検査対象物の表裏を検査する場合に、短時間で検査対象物の表裏検査ができるようにする。【解決手段】複数枚のプリント基板9を集積する集積部1と、この集積されたプリント基板9を上から一枚ずつ取り出すと同時に表裏の検査されたプリント基板9の回収を行うピックアップ機構2と、外観の検査結果に基づいてピックアップ機構2により回収されたプリント基板9を格納する回収部8とを備える。このピックアップ機構2によって集積と回収動作を行わせる場合、集積は第一のステージ40上に載置し、回収は第二のステージ41から行う。この第一のステージ40と第二のステージ41は折り畳み可能に構成され、検査部6の下流側でプリント基板9を表裏反転する。そして、復路でプリント基板9の裏面を検査する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
検査対象物を集積する集積部と、当該集積部から検査対象物を取り出してステージ上に載置させる載置機構と、検査対象物を載置したステージを長手方向に移動させることによって検査対象物を検査する検査部と、当該検査された検査対象物を回収部に回収する回収機構とを備えてなる外観検査装置において、前記集積部と回収部をステージの移動方向の側方に設けるようにしたことを特徴とする外観検査装置。
IPC (3件)：
G01N 21/956
, G01N 21/84
, H05K 3/00
G01N21/956 B
, G01N21/84 C
, H05K3/00 V
2G051AA65
, 2G051AB02
, 2G051BA01
, 2G051CA04
, 2G051CB01
, 2G051DA06
, 2G051DA13
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (8件)
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