特許
J-GLOBAL ID:200903044593364880
テラヘルツ波に関する情報を取得するための装置及び方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
西山 恵三
, 内尾 裕一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-159315
公開番号(公開出願番号):特開2009-075069
出願日: 2008年06月18日
公開日(公表日): 2009年04月09日
要約:
【課題】 設定された領域におけるサンプルを透過あるいは反射したテラヘルツ波の時間波形を取得することができる装置の提供。【解決手段】 14は、発生部12が発生させたテラヘルツ波10がサンプル19を透過したテラヘルツ波11を検出するための検出部13が検出するタイミングを変化させるための遅延部である。 15は、前記遅延部104を用いて得る、前記透過したテラヘルツ波の時間波形を取得するための波形取得部である。 前記記憶部16が予め記憶しているサンプル19に関する情報に基づいて設定される前記時間波形に関する領域で、前記検出部13が前記透過したテラヘルツ波を検出するように前記遅延部14、24を制御する。 そして、前記領域における前記透過したテラヘルツ波の時間波形を取得する。【選択図】 図17
請求項(抜粋):
サンプルを透過あるいは反射したテラヘルツ波に関する情報を取得するための装置であって、
テラヘルツ波を発生させるための発生部と、
前記発生部が発生させたテラヘルツ波がサンプルを透過あるいは反射したテラヘルツ波を検出するための検出部と、
前記検出部が検出するタイミングを変化させるための遅延部と、
サンプルに関する情報を予め記憶する記憶部と、
前記遅延部を用いて得る、前記透過あるいは反射したテラヘルツ波の時間波形を取得するための波形取得部と、を有し、
前記記憶部が予め記憶しているサンプルに関する情報に基づいて設定される前記時間波形に関する領域で、前記検出部が前記テラヘルツ波を検出するように、前記遅延部を制御し、
前記領域における前記透過あるいは反射したテラヘルツ波の時間波形を取得することを特徴とする装置。
IPC (2件):
FI (2件):
G01B11/06 Z
, G01N21/35 Z
Fターム (36件):
2F065AA30
, 2F065BB17
, 2F065CC31
, 2F065DD06
, 2F065FF31
, 2F065FF41
, 2F065FF46
, 2F065GG04
, 2F065GG06
, 2F065GG21
, 2F065LL02
, 2F065LL12
, 2F065LL19
, 2F065LL20
, 2F065LL22
, 2F065LL35
, 2F065LL37
, 2F065LL46
, 2F065LL67
, 2F065QQ11
, 2F065QQ14
, 2F065QQ23
, 2F065QQ25
, 2F065QQ42
, 2F065RR09
, 2G059AA01
, 2G059AA02
, 2G059BB09
, 2G059CC09
, 2G059EE02
, 2G059EE12
, 2G059GG01
, 2G059HH01
, 2G059HH06
, 2G059JJ01
, 2G059JJ13
引用特許:
出願人引用 (1件)
-
塗装膜測定方法及び装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2002-181433
出願人:財団法人大阪産業振興機構
審査官引用 (2件)
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