特許
J-GLOBAL ID：200903046474606916

放射線画像取得装置及び方法

発明者：
井上 仁司

井上 仁司 について

, 
土谷 佳司

土谷 佳司 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (4件)： 大塚 康徳 ,  高柳 司郎 ,  大塚 康弘 ,  木村 秀二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-041654
公開番号（公開出願番号）：特開2007-215868
出願日： 2006年02月17日
公開日（公表日）： 2007年08月30日
要約：
【課題】FPD上でアナログ的に隣接画素加算する場合に、アナログ演算の非線形性により加算画素数に応じたゲイン値が得られず、入射X線量の算定が容易ではない。【解決手段】キャリブレーション時に各加算画素数に応じた白画像を取得する。各白画像は同一X線量で取得し、それぞれの平均値をメモリに保存し、補正に用いることで、加算画素数に依存しない正確な画像情報を得る。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
放射線強度を検出するマトリクス状に配された複数の検出素子を有する撮像部より取得された放射線の強度分布に対応するアナログ電気信号をデジタル値に変換することにより画像情報を得る放射線画像取得装置であって、 前記複数の検出素子の各々からのアナログ電気信号をデジタル値に変換して得られた画素値により構成された画像情報を形成する第1形成手段と、 前記撮像部の複数の隣接する検出素子のアナログ電気信号をアナログ加算して得られた信号を用いて、隣接する画素値が加算された加算画素値により構成された画像情報を形成する第2形成手段と、 同一の放射線量で同一の撮影を行った場合に、前記第1及び第2形成手段で形成される各画像情報の全体もしくは一部の画素値の平均値に基づいて、前記アナログ加算による非線形性を排除する補正値を取得する取得手段と、 前記取得手段で取得した補正値を用いて前記第1又は第2形成手段で形成される画像情報の各画素値を補正する第1補正手段とを備えることを特徴とする放射線画像取得装置。
IPC (2件)：
A61B 6/00 ,  G01T 1/17
FI (2件)：
A61B6/00 300S ,  G01T1/17 E
Fターム (24件)：
2G088EE01 ,  2G088FF02 ,  2G088JJ05 ,  2G088KK06 ,  2G088KK24 ,  2G088KK32 ,  2G088LL02 ,  2G088LL15 ,  2G088LL17 ,  2G088LL26 ,  4C093AA01 ,  4C093CA02 ,  4C093CA03 ,  4C093CA04 ,  4C093EB12 ,  4C093EB13 ,  4C093EB17 ,  4C093FC17 ,  4C093FC18 ,  4C093FD01 ,  4C093FD02 ,  4C093FD03 ,  4C093FD11 ,  4C093FF13
引用特許：
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (6件)
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