特許
J-GLOBAL ID:200903047212101615
光ファイバリング干渉型センサ
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件):
三好 秀和
, 岩▲崎▼ 幸邦
, 川又 澄雄
, 高橋 俊一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-200428
公開番号(公開出願番号):特開2005-043087
出願日: 2003年07月23日
公開日(公表日): 2005年02月17日
要約:
【課題】本発明は、狭い監視区間でも精度良く振動位置を算出する、或いは加振地点で生じた位相変動量を算出することができる光ファイバリング干渉型センサを提供する。【解決手段】異なる波長λ1,λ2を1つのループ状光ファイバ102(106)を共有して時計回りと反時計回りに伝搬させ、両端に設けられた第1及び第2の検出部3a1(3a2)で同時に2つの波長の干渉光強度を観測し、この光ファイバ102上で生じた加振点の特定や加振点での位相変化量を算出するものである。ここで光ファイバ102の一部に、落下物の落下方向に対して垂直方向に光ファイバを敷設し、且つ、落下方向に沿って上下方向に光ファイバを往復配置させてなる光ファイバセンサ部を設けることで、単位長当たりの光ファイバの収容率が上げることができるので、狭い監視区間であっても、精度良く加振点算出を行なうことができる。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
光ファイバを用いて形成されたリング状光路を含むファイバリング部を用いて互いに異なる波長を有する第1及び第2の光信号それぞれの干渉光の位相差を求め、該光ファイバリング部上で生じた加振点を特定する光ファイバリング干渉型センサであって、前記光ファイバリング部は、長さ方向に蛇行配置される光ファイバセンサ部を有することを特徴とする光ファイバリング干渉型センサ。
IPC (6件):
G01B11/00
, G01D5/26
, G01D21/00
, G01H9/00
, G08C15/00
, G08C23/04
FI (6件):
G01B11/00 A
, G01D5/26 D
, G01D21/00 D
, G01H9/00 C
, G08C15/00 D
, G08C23/00 A
Fターム (53件):
2F065AA01
, 2F065FF51
, 2F065LL00
, 2F065LL02
, 2F065QQ00
, 2F065QQ03
, 2F065QQ13
, 2F065QQ23
, 2F065QQ25
, 2F065QQ26
, 2F065QQ27
, 2F073AA19
, 2F073AB11
, 2F073BB06
, 2F073BC04
, 2F073CC01
, 2F073CD05
, 2F073FF08
, 2F073FH02
, 2F073FH07
, 2F073GG01
, 2F073GG03
, 2F073GG04
, 2F073GG05
, 2F076BA12
, 2F076BA15
, 2F076BB08
, 2F076BB09
, 2F076BD01
, 2F076BD06
, 2F076BE02
, 2F103BA10
, 2F103BA41
, 2F103CA08
, 2F103EB02
, 2F103EB05
, 2F103EB08
, 2F103EB12
, 2F103EB16
, 2F103EC09
, 2F103EC10
, 2F103ED01
, 2F103ED12
, 2F103ED27
, 2F103FA01
, 2F103GA10
, 2F103GA15
, 2G064AB03
, 2G064BC06
, 2G064BC12
, 2G064BC25
, 2G064BC32
, 2G064CC17
引用特許:
審査官引用 (8件)
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光ファイバリング干渉型センサ
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-175965
出願人:株式会社フジクラ
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特開昭60-210791
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落石検知方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-329188
出願人:住友電気工業株式会社
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