特許
J-GLOBAL ID:200903047825567617
半導体記憶装置
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (1件):
鈴江 武彦 (外5名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-095967
公開番号(公開出願番号):特開2002-298579
出願日: 2001年03月29日
公開日(公表日): 2002年10月11日
要約:
【要約】【課題】 ネガティブ・ワード線・リセット方式のDRAMにおいて、チップ面積を縮小して、消費電力の増大を抑えることが困難であった。【解決手段】 メモリセルアレイMCAから近い、ローカルワードドライブ線駆動回路LWDには、二種類のレベルシフト回路のうちの第1のレベルシフト回路LS1のみを配置し、第2のレベルシフト回路LS2をメモリセルアレイMCAから離れたグローバルワードドライブ線駆動回路GWDに配置している。このため、ローカルワードドライブ線駆動回路LWDの面積を縮小することができ、SSCの面積を縮小することができる。
請求項(抜粋):
ハイレベルが第1の電圧で、ローレベルが第2の電圧である第1の信号に応じて、ハイレベルが前記第1の電圧で、ローレベルが前記第2の電圧より低い第3の電圧である第2の信号を発生する第1の回路と、前記第1の回路から出力される前記第2の信号が供給され、前記第2の信号に応じて、ハイレベルが前記第1の電圧より高い第4の電圧で、ローレベルが前記第3の電圧である第3の信号を発生する第2の回路とを有し、前記第1の回路は、前記第2の電圧を第3の電圧に変換する第1のレベルシフト回路を含み、前記第2の回路は、前記第1の電圧を第4の電圧に変換する第2のレベルシフト回路を含むことを特徴とする半導体記憶装置。
Fターム (14件):
5M024AA04
, 5M024AA52
, 5M024AA54
, 5M024AA55
, 5M024BB08
, 5M024BB34
, 5M024CC26
, 5M024CC35
, 5M024CC39
, 5M024CC40
, 5M024FF02
, 5M024FF03
, 5M024PP01
, 5M024PP03
引用特許:
審査官引用 (4件)
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半導体記憶装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-238474
出願人:日本電気株式会社
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半導体集積回路装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-081916
出願人:株式会社日立製作所
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半導体記憶装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-008471
出願人:株式会社東芝
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半導体記憶装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-150072
出願人:富士通株式会社
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