特許

J-GLOBAL ID：200903048288104776

液晶パネルの検査装置および検査方法

発明者： 東 伸之
出願人/特許権者： シャープ株式会社
代理人 (3件)： 西教 圭一郎 ,  杉山 毅至 ,  廣瀬 峰太郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-063084
公開番号（公開出願番号）：特開2006-243670
出願日： 2005年03月07日
公開日（公表日）： 2006年09月14日
要約：

【課題】 検査者が液晶パネルを目視して検査する検査装置であって、液晶パネルの微小欠陥を容易に検出することができ、小形化することができる液晶パネルの検査装置、および検査方法を提供する。【解決手段】 液晶パネル2の他の表面部から出射される光は、シリンドリカルレンズ6によって発散されるので、検査者は、液晶パネル2の微小な欠陥8であっても、発散された光を観察することによって、容易に検出することができ、既存の技術にように、検査者は熟練を要していなくても、微小な欠陥8を検出することができる。またシリンドリカルレンズ6は、移動機構7によって液晶パネル2に対し相対変位されるので、液晶パネル2が比較的大形であっても、シリンドリカルレンズ6を変位させることによって、液晶パネル2の全域にわたって検査することができ、既存の技術のように、検査装置1を大形することなく、大形の液晶パネル2を検査することができる。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

液晶パネルの駆動回路に電力を供給する電力供給手段と、 液晶パネルの一表面部に向けて検出用の光を発する光源と、 液晶パネルの他の表面部から出射される光を発散させる光学部品と、 液晶パネルに対し、前記光学部品を相対変位させる相対変位手段とを含むことを特徴とする液晶パネルの検査装置。

IPC (6件)：

G02F 1/13 ,  G01M 11/00 ,  G01N 21/84 ,  G01N 21/88 ,  G02F 1/133 ,  G09F 9/00

FI (6件)：

G02F1/13 101 ,  G01M11/00 T ,  G01N21/84 D ,  G01N21/88 Z ,  G02F1/1335 ,  G09F9/00 352

Fターム (27件)：

2G051AA73 ,  2G051AB02 ,  2G051CA11 ,  2G051CC09 ,  2G086EE10 ,  2H088FA12 ,  2H088FA13 ,  2H088FA30 ,  2H088HA06 ,  2H088HA26 ,  2H088HA28 ,  2H088MA01 ,  2H091FA28X ,  2H091FC29 ,  2H091FC30 ,  2H091FD12 ,  2H091FD22 ,  2H091GA11 ,  2H091LA12 ,  2H091LA16 ,  2H091MA10 ,  5G435AA17 ,  5G435AA19 ,  5G435BB12 ,  5G435CC09 ,  5G435KK05 ,  5G435KK10

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 特開平4-248435号公報
  
• 液晶パネル検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-092766   出願人：株式会社アドバンテスト

審査官引用 (2件)

• 平面表示装置の品位検査方法およびその品位検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-301889   出願人：株式会社堀場製作所, テクノス株式会社
• 異物検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-401326   出願人：株式会社堀場製作所