特許
J-GLOBAL ID：200903048380213417

試料分析用ディスクおよび試料分析装置

発明者：
植松 貴之

植松 貴之 について


出願人/特許権者：
松下電器産業株式会社

松下電器産業株式会社 について


代理人 (3件)： 岩橋 文雄 ,  内藤 浩樹 ,  永野 大介
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-178783
公開番号（公開出願番号）：特開2006-349594
出願日： 2005年06月20日
公開日（公表日）： 2006年12月28日
要約：
【課題】従来よりも少ない試料で高速に精度良く測定することのできる試料分析用ディスクおよび試料分析装置を提供する。【解決手段】試料を注入する試料注入口6と、ディスク内部に設けられた前記試料が流れる流路7と、余剰な前記試料が流れ込むオーバーフロー領域9と、前記流路内に導かれた前記試料に含まれるビーズ11を前記ディスクに固定するくぼみ12を前記流路7の側面に備え、前記試料を試料分析用ディスク1の回転による遠心力で前記流路7へ展開し、前記ビーズ11を前記くぼみ12へ固定し、前記試料に含まれる前記ビーズ11の発光から試料を高速に分析することが出来る。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
ディスク内周側に設けられ、試料が注入される注入口と、 前記ディスクの内周側から外周側へ形成され、一端が前記注入口と連結し前記試料が流れる流路とを備え、 前記流路は、前記ディスクを回転させることにより前記ディスク半径方向の内周から外周に向かって働く遠心力を利用して前記試料に混入された固体の検査対象物を固定する複数のくぼみを側面に有し、 前記くぼみは前記対象物が1つずつ収まるように前記流路側面から前記流路の外側へ突出して形成される、 ことを特徴とする試料分析用ディスク。
IPC (4件)：
G01N 35/08 ,  G01N 35/00 ,  G01N 35/02 ,  G01N 37/00
FI (4件)：
G01N35/08 A ,  G01N35/00 A ,  G01N35/02 C ,  G01N37/00 101
Fターム (4件)：
2G058DA07 ,  2G058GA06 ,  2G058GC05 ,  2G058GD00
引用特許：
出願人引用 (4件)
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