特許
J-GLOBAL ID:200903048546549958
微粒子の分析および操作のためのナノ構造表面
発明者:
,
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (8件):
岡部 正夫
, 加藤 伸晃
, 岡部 讓
, 臼井 伸一
, 越智 隆夫
, 本宮 照久
, 朝日 伸光
, 三山 勝巳
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-281351
公開番号(公開出願番号):特開2006-105980
出願日: 2005年09月28日
公開日(公表日): 2006年04月20日
要約:
【課題】 微粒子の破壊または試験を容易にすること。【解決手段】 本発明は第1の剛性面を有する第1の機械的構造体を備えた装置を提供し、前記第1の剛性面のある領域はナノ構造表面を有する。本装置は、第2の剛性面を有しかつ前記第1の機械的構造体に対向する第2の機械的構造体も含む。第2の剛性面は微細粒子がナノ構造表面と第2の剛性面との間に位置できるようにナノ構造表面と協働可能である。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
第1の剛性面を有し、前記第1の剛性面のある領域がナノ構造表面を有する第1の機械的構造体と、
第2の剛性面を有し、かつ微細粒子が前記ナノ構造表面と前記第2の剛性面との間に位置決め可能になるように前記第1の機械的構造体と対向し前記ナノ構造表面と協働可能な第2の機械的構造体とを備えた装置。
IPC (3件):
G01N 1/04
, B82B 1/00
, G01N 15/00
FI (3件):
G01N1/04 F
, B82B1/00
, G01N15/00 C
Fターム (3件):
2G052AA33
, 2G052AD35
, 2G052FD08
引用特許:
出願人引用 (9件)
全件表示
審査官引用 (10件)
全件表示
前のページに戻る