特許
J-GLOBAL ID:200903050133224010
眼軸長測定装置
発明者:
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出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-350681
公開番号(公開出願番号):特開2008-161218
出願日: 2006年12月26日
公開日(公表日): 2008年07月17日
要約:
【課題】 被検眼の状態に応じた眼軸長測定を効率よく行う。【解決手段】 被検眼の眼軸長を非接触にて光学的に測定する非接触式眼軸長測定手段と、超音波プローブを被検眼角膜に接触させた状態で被検眼の眼軸長を測定する超音波式眼軸長測定手段と、前記非接触式眼軸長測定手段を用いて測定を行う第1測定モードと前記超音波眼軸長測定手段を用いて測定を行う第2測定モードとを自動もしくは手動にて切換えるモード切換手段と、前記第1測定モード及び第2測定モードにて得られた測定結果を表示する表示手段と、を備える。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
被検眼の眼軸長を非接触にて光学的に測定する非接触式眼軸長測定手段と、
超音波プローブを被検眼角膜に接触させた状態で被検眼の眼軸長を測定する超音波式眼軸長測定手段と、前記非接触式眼軸長測定手段を用いて測定を行う第1測定モードと前記超音波眼軸長測定手段を用いて測定を行う第2測定モードとを自動もしくは手動にて切換えるモード切換手段と、前記第1測定モード及び第2測定モードにて得られた測定結果を表示する表示手段と、を備えることを眼軸長測定装置。
IPC (2件):
FI (3件):
A61B3/10 Z
, A61B3/10 U
, A61B8/10
Fターム (4件):
4C601BB01
, 4C601DD13
, 4C601EE09
, 4C601LL33
引用特許:
出願人引用 (2件)
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眼科用超音波診断装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-000183
出願人:株式会社ニデック
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眼科測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2004-165372
出願人:株式会社ニデック
審査官引用 (5件)
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生体眼計測装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-002741
出願人:株式会社トプコン
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眼屈折力測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2003-309349
出願人:株式会社ニデック
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特開平2-004310
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眼科装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2004-289077
出願人:株式会社ニデック
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特開平1-097433
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