特許
J-GLOBAL ID：200903050542175810

イオンの抽出方法およびその装置

発明者：
林崎 良英

林崎 良英 について

, 
加藤 俊幸

加藤 俊幸 について

, 
河合 純

河合 純 について


出願人/特許権者：
独立行政法人理化学研究所

独立行政法人理化学研究所 について


代理人 (1件)： 上島 淳一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-244648
公開番号（公開出願番号）：特開2007-057432
出願日： 2005年08月25日
公開日（公表日）： 2007年03月08日
要約：
【課題】レーザーアブレーションにより生成した分子を構成する構成原子のイオンを、後段の分析や解析で良好な結果が得られるように抽出する。【解決手段】分析対象に超短パルスレーザー光を照射して該分析対象をアブレーションすることにより、該分析対象を構成原子に原子化し、該原子化した構成原子をイオン化し、該イオン化した構成原子のイオンを抽出するイオンの抽出方法であって、逆電場をかけて上記アブレーションにより得られたイオンを減速した後に、順電場をかけて上記アブレーションにより得られたイオンから所定のイオンを加速することによりバックグラウンドイオンを除去して上記所定のイオンを抽出する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
分析対象に超短パルスレーザー光を照射して該分析対象をアブレーションすることにより、該分析対象を構成原子に原子化し、該原子化した構成原子をイオン化し、該イオン化した構成原子のイオンを抽出するイオンの抽出方法であって、 逆電場をかけて前記アブレーションにより得られたイオンを減速した後に、順電場をかけて前記アブレーションにより得られたイオンから所定のイオンを加速することによりバックグラウンドイオンを除去して前記所定のイオンを抽出する ことを特徴とするイオンの抽出方法。
IPC (3件)：
G01N 27/64 ,  G01N 27/62 ,  H01J 49/16
FI (3件)：
G01N27/64 B ,  G01N27/62 E ,  H01J49/16
Fターム (13件)：
2G041CA01 ,  2G041DA03 ,  2G041EA12 ,  2G041FA10 ,  2G041FA11 ,  2G041FA12 ,  2G041GA29 ,  2G041GA30 ,  2G041KA03 ,  2G041KA10 ,  5C038GG07 ,  5C038GH06 ,  5C038GH11
引用特許：
審査官引用 (4件)
全件表示
引用文献：
審査官引用 (1件)

前のページに戻る

TOP

BOTTOM