特許
J-GLOBAL ID：200903050680083455

光学式測定器、光学式測定装置及び光学式測定システム

発明者：
谷口 朝信

谷口 朝信 について

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江口 正浩

江口 正浩 について

, 
浦 治男

浦 治男 について


出願人/特許権者：
株式会社ソアテック

株式会社ソアテック について


代理人 (1件)： 大塚 秀一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-125022
公開番号（公開出願番号）：特開2006-300817
出願日： 2005年04月22日
公開日（公表日）： 2006年11月02日
要約：
【課題】 構成を簡単にすると共に耐久性を向上すること。【解決手段】 NC加工機1は、NC制御装置9により、測定対象物4の加工時に、加工用テーブル2をX軸方向及びY軸方向に移動制御すると共に主軸ヘッド6をZ軸方向に移動制御し、測定対象物4の測定時に、加工用テーブル2を加工時と同一の制御によって移動させる。光学式測定器18は、NC制御装置9の移動制御によって変化する加工用テーブル2のX座標値及びY座標値に同期して測定対象物4からの測定用光を光検出素子で検出する。光学式測定装置の制御部は、前記光検出素子で検出した測定用光に基づいて測定対象物4の形状を算出する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
自動制御型加工機の加工用工具取付部に係合可能なホルダ部と、測定用光を出力する光源及び測定用光の検出を行う光検出手段を有する光測定部とを有し、 前記自動制御型加工機の工具主軸位置に装着、脱着が可能に構成されて成ることを特徴とする光学式測定器。
IPC (2件)：
G01B 11/24 ,  B23Q 17/20
FI (2件)：
G01B11/24 A ,  B23Q17/20 A
Fターム (18件)：
2F065AA46 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065DD06 ,  2F065DD16 ,  2F065FF09 ,  2F065FF23 ,  2F065GG07 ,  2F065JJ16 ,  2F065JJ25 ,  2F065JJ26 ,  2F065MM02 ,  2F065PP01 ,  2F065PP12 ,  2F065RR03 ,  2F065UU03 ,  3C029BB01 ,  3C029BB10
引用特許：
出願人引用 (1件)
  • 切削具取付ユニット
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-236480   出願人：大昭和精機株式会社
審査官引用 (4件)
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