特許
J-GLOBAL ID：200903050930005404
飛行時間型質量分析計
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
井島 藤治
, 鮫島 信重
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-114276
公開番号（公開出願番号）：特開2006-294451
出願日： 2005年04月12日
公開日（公表日）： 2006年10月26日
要約：
【課題】 らせん軌道を描くイオンの周回数を変更することができる飛行時間型質量分析計を実現する。【解決手段】 検出器移動手段である支持アーム42、支持台座44、ねじ切り棒45、ハンドル47、ガイドレール43および筐体46により、整合回路を含む検出器41を、周回数に応じたイオンビーム22の周回軌道上に位置させることとしているので、検出されるイオンビーム22の総飛行距離を可変にすることができ、ひいては質量分解能あるいは感度等を、オペレータが望むものとすることを実現させる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
イオン源から射出されたイオンが、扇形電場の作用により周回軌道を飛行しつつ、前記周回軌道の一部で、前記周回軌道の軌道面と直交する直交方向に軌道面をずらしたらせん軌道を描く飛行時間型質量分析計であって、
前記周回軌道上に位置し、前記イオンを検出する検出器と、
前記軌道面上の前記位置を保ちつつ、前記直交方向に前記検出器を移動させる検出器移動手段と、
を備えることを特徴とする飛行時間型質量分析計。
IPC (3件)：
H01J 49/42
, G01N 27/62
, H01J 49/06
H01J49/42
, G01N27/62 E
, G01N27/62 K
, H01J49/06
2G041CA01
, 2G041GA06
, 2G041GA29
, 5C038CC06
