特許
J-GLOBAL ID：200903050946434542

疵検出装置、疵検出方法、コンピュータプログラム及び記録媒体

発明者：
小林 尊道

小林 尊道 について

, 
今野 雄介

今野 雄介 について

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江川 敏

江川 敏 について


出願人/特許権者：
新日本製鐵株式会社

新日本製鐵株式会社 について


代理人 (1件)： 國分 孝悦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-114982
公開番号（公開出願番号）：特開2006-292593
出願日： 2005年04月12日
公開日（公表日）： 2006年10月26日
要約：
【課題】 設備の振動による画像の乱れや、電気的なノイズ、メッキ合金化のムラや検出する必要の無い模様などを疵として検出してしまう過検出をなくして、疵判定の精度を向上できるようにする。【解決手段】 疵検査対象物を撮像して得られた画像信号を解析して有害疵を検出する際に、上記画像信号から抽出された疵候補画像の中から特定形状の模様を含む画像を抽出し、上記抽出した画像に所定の画像処理を行って有害疵を検出するようにすることにより、有害疵を検出するために行う画像処理対象を絞り込むことができるようにして、疵検出処理速度の向上及び疵検出の精度を向上できるようにする。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
疵検査対象物を撮像して得られた画像信号を解析して有害疵を検出する疵検出装置であって、 上記画像信号の全体から特定形状の模様を含む画像を疵候補画像として抽出する疵候補画像抽出手段と、 上記疵候補画像抽出手段により抽出された疵候補画像を切り出す疵候補画像切り出し手段と、 上記疵候補画像切り出し手段により切り出された疵候補画像に対して画像補正を行う画像補正手段と、 上記画像補正手段により補正された画像中に存在する有害疵を検出する有害疵検出手段とを有することを特徴とする疵検出装置。
IPC (2件)：
G01N 21/892 ,  G06T 1/00
FI (2件)：
G01N21/892 B ,  G06T1/00 300
Fターム (27件)：
2G051AA37 ,  2G051AB02 ,  2G051AC02 ,  2G051CA04 ,  2G051DA06 ,  2G051EA11 ,  2G051EA12 ,  2G051EA25 ,  2G051EB01 ,  2G051EC02 ,  2G051EC03 ,  2G051ED04 ,  2G051ED08 ,  2G051ED21 ,  5B057AA01 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CE02 ,  5B057CE06 ,  5B057DA03 ,  5B057DA08 ,  5B057DA12 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5B057DC09 ,  5B057DC23
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (3件)

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