特許
J-GLOBAL ID:200903051103545721

画像欠陥検出装置および画像欠陥検出方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 山本 秀策
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-380697
公開番号(公開出願番号):特開2003-187222
出願日: 2001年12月13日
公開日(公表日): 2003年07月04日
要約:
【要約】【課題】 表示画像の欠陥を検出するためのしきい値を自動的に設定することができる画像欠陥検出装置を提供する。【解決手段】 画像欠陥検出装置は、撮像手段と、N個の検出領域とN個の基準領域とを設定する領域設定手段と、各検出対象領域内の複数の画素表示データと、基準領域内の複数の画素表示データとに基づいて、N個の比較値をそれぞれ算出する比較値算出手段と、N個の比較値をN個の比較値の値の順番に並べ替える並べ替え手段と、並べ替え手段によって並べ替えられたN個の比較値のうち比較値の値の小さい方からJ番目の比較値と(J+w)番目の比較値との差分と(Jおよびwは、1≦J≦N-w、1≦w≦Nをそれぞれ満足する整数)、予め定められたしきい値設定用基準値とに基づいて、画像の欠陥の有無を判定するためのしきい値を設定するしきい値設定手段とを具備する。
請求項(抜粋):
複数の画素によって構成される画像を撮像する撮像手段と、該画像の欠陥を検出するためのN個の検出領域と(Nは、2以上の整数)、該N個の検出領域にそれぞれ対応するN個の基準領域とを該画像に設定する領域設定手段と、各検出領域内の複数の画素をそれぞれ表示するための複数の画素表示データと、各検出領域に対応する基準領域内の複数の画素をそれぞれ表示するための複数の画素表示データとに基づいて、各検出領域ごとに比較値をそれぞれ算出する比較値算出手段と、該比較値算出手段によって算出されたN個の該比較値をその値の順番に並べ替える並べ替え手段と、該並べ替え手段によって並べ替えられた該N個の比較値のうち該比較値の値の小さい方からJ番目の比較値と(J+w)番目の比較値との差分と(Jおよびwは、1≦J≦N-w、1≦w≦Nをそれぞれ満足する整数)、予め定められたしきい値設定用基準値とに基づいて、該画像の欠陥の有無を判定するためのしきい値を設定するしきい値設定手段と、該しきい値と該N個の比較値とに基づいて、該画像の欠陥を検出する欠陥検出手段とを具備することを特徴とする画像欠陥検出装置。
IPC (5件):
G06T 1/00 300 ,  G01M 11/00 ,  G06T 7/00 ,  G09F 9/00 352 ,  H04N 17/04
FI (5件):
G06T 1/00 300 ,  G01M 11/00 T ,  G06T 7/00 T ,  G09F 9/00 352 ,  H04N 17/04 Z
Fターム (39件):
2G086EE10 ,  5B057AA01 ,  5B057BA29 ,  5B057CA01 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB01 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CC02 ,  5B057CE16 ,  5B057DA03 ,  5B057DB02 ,  5B057DB06 ,  5B057DB09 ,  5B057DC22 ,  5C061BB03 ,  5C061BB05 ,  5C061CC05 ,  5C061CC09 ,  5C061EE21 ,  5G435AA17 ,  5G435AA19 ,  5G435BB12 ,  5G435CC09 ,  5G435KK10 ,  5L096AA02 ,  5L096AA06 ,  5L096BA03 ,  5L096CA02 ,  5L096EA45 ,  5L096FA17 ,  5L096GA07 ,  5L096GA17 ,  5L096GA40 ,  5L096GA51 ,  5L096LA04
引用特許:
審査官引用 (6件)
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