イオンを捕捉する方法および装置

発明者： , , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：吉田研二 , 石田純
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-503590
公開番号（公開出願番号）：特表2008-535169
出願日： 2006年03月29日
公開日（公表日）： 2008年08月28日
要約：

本発明は、イオンを捕捉する方法およびイオントラップアセンブリに関する。本発明は特に、質量分析計内でイオンの質量分析を行なう前に、イオントラップ内で気体を利用するイオンの捕捉に用途がある。本発明は、各ボリュームがターゲットイオントラップを含んでいて、一つのボリュームから次のボリュームへイオンが移動できるように構成された一連のボリュームからなるイオントラップアセンブリのターゲットイオントラップ内でイオンを捕捉する方法を提供し、これによりイオンが捕捉されることなく繰り返しボリュームを通過して、ターゲットイオントラップに流入および流出することが可能である。電位を用いて、イオントラップアセンブリの各々の端部からイオンを反射することができる。オプションとして、電位井戸および/または気体利用冷却を用いて、ターゲットイオントラップ内でイオンを安定させることができる。

請求項（抜粋）：

ターゲットイオントラップ内でイオンを捕捉する方法であって、各ボリュームがターゲットイオントラップを含んでいて、一つのボリュームから次のボリュームへイオンが移動できるように構成された一連のボリュームからなるイオントラップアセンブリ内へイオンを導入するステップと、イオンが捕捉されることなく前記ターゲットイオントラップに流入および流出できるようにするステップと、イオンが前記ターゲットイオントラップに2回流入するようにイオンを誘導するステップとを含む方法。

IPC (3件)：

H01J 49/42 , H01J 49/06 , G01N 27/62

FI (3件)：

H01J49/42 , H01J49/06 , G01N27/62 K

Fターム (14件)：

2G041CA01 , 2G041DA04 , 2G041DA05 , 2G041GA05 , 2G041GA06 , 2G041GA07 , 2G041GA08 , 2G041GA13 , 2G041GA22 , 2G041GA29 , 5C038FF07 , 5C038JJ06 , 5C038JJ07 , 5C038JJ11

引用特許：

審査官引用 (5件)

軸電界を有する分光計
公報種別：公表公報出願番号：特願平9-508772 出願人：エムディーエスヘルスグループリミテッド
多段型の質量分析計
公報種別：公表公報出願番号：特願2001-519468 出願人：ユニバーシティオブニューハンプシャー
質量分析計
公報種別：公開公報出願番号：特願2003-202179 出願人：株式会社日立ハイテクノロジーズ, 株式会社日立製作所

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