印刷検査のシミュレーション装置および印刷検査のシミュレーション方法

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：岩橋文雄 , 坂口智康 , 内藤浩樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-216323
公開番号（公開出願番号）：特開2004-058296
出願日： 2002年07月25日
公開日（公表日）： 2004年02月26日
要約：

【課題】多様な検査形態で実行される印刷検査の所要時間を適正に予測することができる印刷検査のシミュレーション装置およびシミュレーション方法を提供することを目的とする。【解決手段】クリーム半田の印刷状態を検査する印刷検査の実行に先だって印刷検査実行の所要時間を予測するためのシミュレーション演算を行う印刷検査のシミュレーションにおいて、基板の回路形成面に設けられた電子部品接合用の電極に印刷される要素印刷部の形状および位置を示す要素形状・位置データを検査用撮像視野毎に括るとともに検査優先順位条件に従って優先順位付けして作成された優先順位付き検査用データを記憶させておき、優先順位付き検査用データと動作時間データとに基づいて、各検査用撮像視野ごとに所要時間を累積加算するシミュレーション演算を行う。【選択図】図13

請求項（抜粋）：

基板に印刷されたクリーム半田の印刷状態を検査する印刷検査の実行に先だって印刷検査実行の所要時間を予測するためのシミュレーション演算を行う印刷検査のシミュレーション装置であって、前記基板の回路形成面に設けられた電子部品接合用の電極に印刷される要素半田印刷部の形状および位置を示す要素形状・位置データを検査用撮像視野毎に括るとともに検査優先順位条件に従って優先順位付けして作成された優先順位付き検査用データを記憶する検査用データ記憶手段と、前記シミュレーション演算に必要な動作時間データを記憶する動作時間ライブラリと、前記優先順位付き検査用データと前記動作時間データとに基づいて前記シミュレーション演算を行う演算手段と、シミュレーション演算結果を表示する表示手段とを備えたことを特徴とする印刷検査のシミュレーション装置。

IPC (7件)：

B41F15/12 , B41F15/08 , B41F33/14 , G01B11/00 , G01B11/24 , G01N21/956 , H05K3/34

FI (7件)：

B41F15/12 A , B41F15/08 303E , G01B11/00 H , G01N21/956 B , H05K3/34 512B , B41F33/14 G , G01B11/24 K

Fターム (45件)：

2C035FB26 , 2C035FB29 , 2C250EA12 , 2C250EA13 , 2C250EB38 , 2C250EB42 , 2C250EB43 , 2F065AA01 , 2F065AA51 , 2F065BB02 , 2F065CC01 , 2F065CC26 , 2F065FF04 , 2F065FF41 , 2F065PP03 , 2F065PP12 , 2F065PP13 , 2F065QQ23 , 2F065QQ31 , 2F065RR05 , 2F065SS04 , 2F065SS13 , 2F065TT02 , 2G051AA51 , 2G051AA61 , 2G051AA65 , 2G051AB11 , 2G051AB14 , 2G051CA03 , 2G051CA04 , 2G051CD04 , 2G051DA01 , 2G051DA06 , 2G051DA07 , 2G051DA08 , 2G051EA14 , 2G051EB01 , 2G051EB02 , 2G051ED01 , 5E319AC01 , 5E319BB05 , 5E319CC22 , 5E319CD29 , 5E319CD53 , 5E319GG15

引用特許：

審査官引用 (10件)

外観検査シミュレーションシステムおよびその方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平11-211905 出願人：松下電工株式会社
クリームはんだ印刷検査装置の検査データ作成方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平11-267298 出願人：ソニー株式会社
表面検査装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2000-348180 出願人：日本鋼管株式会社

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