特許
J-GLOBAL ID：200903051323110190

座標付き物理量計測方法およびその物理量計測装置

発明者：
岩根 和郎

岩根 和郎 について


出願人/特許権者：
株式会社岩根研究所

株式会社岩根研究所 について


代理人 (1件)： 原田 寛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-186247
公開番号（公開出願番号）：特開2005-017246
出願日： 2003年06月30日
公開日（公表日）： 2005年01月20日
要約：
【課題】板状もしくは層状等の構造体の材料に関しての物理的特性を詳細な二次元座標および三次元座標と対応して計測できる方法と装置を提供する。【解決手段】平行に配列した細線で形成して成る計測電極部2A,2Bが被計測材料Pを挟んで、しかも一方の計測電極部2Aの細線の方向と他方の計測電極部2Bの細線の方向とが互いに直交するように設置し、一方の計測電極部2Aの細線の一つと他方の計測電極部2Bの細線の一つとが作る交差点、あるいは最も接近した点の座標を特定して計測点とし、その計測点の位置座標に対応する被計測材料Pの両面間に係わる物理的特性を、計測電極部2A,2Bの細線に流れる電流、または電極間の電位により計測すると共に、計測電極部2A,2Bの全交差点を計測し、その計測結果を面上に表現して表示する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
複数の平行線で、面状に配列した細線で形成して成る計測電極部が被計測材料を挟んで、しかも一方の計測電極部の細線の方向と他方の計測電極部の細線の方向とが互いに直交するように設置し、一方の計測電極部の細線の一つと他方の計測電極部の細線の一つとが作る交差点、あるいは最も接近した点の座標を特定して計測点とし、その点の位置座標に対応する被計測材料の両面間に係わる物理的特性を、計測電極部の細線に流れる電流、または電極間の電位により計測すると共に、計測電極部の全交差点を計測し、その計測結果を面上に表現して表示することを特徴とした座標付き物理量計測方法。
IPC (2件)：
G01D21/00 ,  G01N27/02
FI (2件)：
G01D21/00 M ,  G01N27/02 Z
Fターム (23件)：
2F076BA01 ,  2F076BB05 ,  2F076BD07 ,  2F076BD10 ,  2F076BD16 ,  2F076BD17 ,  2G060AA09 ,  2G060AE01 ,  2G060AF03 ,  2G060AF06 ,  2G060AF11 ,  2G060AF13 ,  2G060AG05 ,  2G060AG11 ,  2G060AG14 ,  2G060EA03 ,  2G060EA06 ,  2G060EB03 ,  2G060HA02 ,  2G060HC17 ,  2G060JA07 ,  2G060KA09 ,  2G060KA13
引用特許：
審査官引用 (4件)
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