特許
J-GLOBAL ID:200903051434389924
ディスクの外径計測方法、及びディスクの外径計測装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (5件):
杉村 興作
, 徳永 博
, 藤谷 史朗
, 来間 清志
, 冨田 和幸
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-054300
公開番号(公開出願番号):特開2006-242575
出願日: 2005年02月28日
公開日(公表日): 2006年09月14日
要約:
【課題】 ディスク外径を高精度かつ廉価に計測することができる新規な方法及び装置を提供する。【解決手段】 外径公知の参照ディスク11と外径未知の計測ディスク12とを準備し、参照ディスク11の外周部と静電容量センサとで形成される基準空間の静電容量Cr及び計測ディスク12の外周部と静電容量センサとで形成される計測空間の静電容量Cmを比較し、それらの相対的な大きさ及び参照ディスク11の外径Drに基づき、計測ディスク12の外径Dmを計測する。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
計測ディスクの外径を非接触で計測することを特徴とする、ディスクの外径計測方法。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (12件):
2F063AA19
, 2F063BA30
, 2F063BC06
, 2F063BD11
, 2F063CA08
, 2F063CB02
, 2F063DA01
, 2F063DA05
, 2F063DA22
, 2F063DD03
, 2F063HA04
, 2F063PA08
引用特許:
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