特許

J-GLOBAL ID：200903051792014665

テストトレイ

発明者： 足立 俊雄 ,  大町 敏彦
出願人/特許権者： 横河電機株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-284869
公開番号（公開出願番号）：特開2005-055244
出願日： 2003年08月01日
公開日（公表日）： 2005年03月03日
要約：

【課題】 デバイスとソケットの間に機械的な位置決め機構なしにコンタクトを成立させ、デバイス搬送エラーの発生率を低下させ、チェンジキットを安価にするとともに、品種交換の段取りにかかる時間を短縮したテストトレイを実現する。【解決手段】 検査対象デバイスが格納され、ハンドラによって検査位置へ搬送されるテストトレイにおいて、トレイ本体に対して位置決めされて取り付けられたポケットと、トレイ本体に付加されたアライメントマークとを有する。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

検査対象デバイスが格納され、ハンドラによって検査位置へ搬送されるテストトレイにおいて、 トレイ本体に対して位置決めされて取り付けられたポケットと、 トレイ本体に付加されたアライメントマークと、 を備えたことを特徴とするテストトレイ。

IPC (2件)：

G01R31/26 ,  H01L21/68

FI (2件)：

G01R31/26 Z ,  H01L21/68 U

Fターム (17件)：

2G003AA07 ,  2G003AG11 ,  2G003AG16 ,  2G003AH04 ,  5F031CA13 ,  5F031DA05 ,  5F031EA06 ,  5F031EA16 ,  5F031JA02 ,  5F031JA17 ,  5F031JA25 ,  5F031JA28 ,  5F031JA29 ,  5F031JA38 ,  5F031MA33 ,  5F031PA09 ,  5F031PA30

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 位置固定方法、位置固定装置及び位置固定装置を用いたハンドラ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-400910   出願人：横河電機株式会社
• 特許第3405531号公報
  

審査官引用 (4件)

• 特開平2-213777
  
• 表面実装型パッケージ用治具
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-045280   出願人：ソニー株式会社
• ICテスタ調整装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-317035   出願人：安藤電気株式会社
• QFP型IC用ICソケットの位置検出方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-120567   出願人：安藤電気株式会社