特許
J-GLOBAL ID:200903051902639305
電気特性検査用検査器具
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
朝日奈 宗太 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-061511
公開番号(公開出願番号):特開2000-258459
出願日: 1999年03月09日
公開日(公表日): 2000年09月22日
要約:
【要約】【課題】 大型の液晶パネルなどの検査対象に対応し得る電気特性検査用検査器具を提供する。【解決手段】 電気特性が検査される検査対象の全端子に同時に接触子1を接触させて電気特性を検査するための検査器具であって、金属定板3と、複数の前記接触子1の集合構造物であり、前記金属定板3に固定された少なくとも1個の接触子群2とからなり、前記金属定板3における前記検査対象の端子付近の位置に、開口部4が部分的に形成され、前記接触子1の少なくとも一部が、前記開口部4内部に配設されてなることを特徴とする電気特性検査用検査器具。
請求項(抜粋):
電気特性が検査される検査対象の全端子に同時に接触子を接触させて電気特性を検査するための検査器具であって、定板と、複数の前記接触子の集合構造物であり、前記定板に固定された少なくとも1個の接触子群とからなり、前記定板における前記検査対象の端子付近の位置に、開口部が部分的に形成され、前記接触子の少なくとも一部が、前記開口部内部に配設されてなることを特徴とする電気特性検査用検査器具。
IPC (3件):
G01R 1/073
, G01R 31/00
, G02F 1/1345
FI (3件):
G01R 1/073 D
, G01R 31/00
, G02F 1/1345
Fターム (20件):
2G011AA02
, 2G011AA15
, 2G011AB01
, 2G011AB04
, 2G011AB05
, 2G011AC05
, 2G011AC06
, 2G011AE01
, 2G011AE03
, 2G011AF06
, 2G011AF07
, 2G036AA25
, 2G036AA27
, 2G036AA28
, 2G036BA33
, 2G036BB12
, 2G036CA09
, 2H092GA41
, 2H092MA56
, 2H092NA30
引用特許:
出願人引用 (6件)
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特開平3-218472
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液晶パネル用検査ユニット
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-056487
出願人:日本発条株式会社
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プローブユニット及びその調節方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-061604
出願人:株式会社日本マイクロニクス
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表示パネル検査用ソケット
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-101837
出願人:株式会社エンプラス
-
プローブユニット
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-355770
出願人:株式会社日本マイクロニクス
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特開平4-184264
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審査官引用 (3件)
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特開平3-218472
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特開平3-218472
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液晶パネル用検査ユニット
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-056487
出願人:日本発条株式会社
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