特許
J-GLOBAL ID：200903052406354623

IC試験装置

発明者：
根岸 利幸

根岸 利幸 について


出願人/特許権者：
株式会社アドバンテスト

株式会社アドバンテスト について


代理人 (1件)： 渡辺 喜平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-306789
公開番号（公開出願番号）：特開2002-116241
出願日： 2000年10月05日
公開日（公表日）： 2002年04月19日
要約：
【要約】【課題】 被測定デバイスの出力データにサイクルずれが生じた場合においても、テストパターンを書き替えることなく容易に対応する技術の提供。【解決手段】 タイミング発生部1からタイミング発生器3と論理比較回路2とそれぞれ期待値パターンS2を入力する信号経路上に、それぞれサイクルシフト部5を設け、各サイクルシフト部5において、DUT4のサイクルずれに合わせて、期待値パターンを同一サイクル数ずつシフトさせる。
請求項（抜粋）：
ドライブパターン及び期待値パターンを発生するテストパターン発生部と、前記期待値パターンが入力され、ストローブ信号を出力するタイミング発生器と、前記ドライブパターンが入力されたICの出力データと前記期待値パターンとを、前記ストローブ信号によって規定されるタイミングで比較し、前記ICの良否を判定する論理比較回路とを備えたIC試験装置であって、前記タイミング発生器及び論理比較回路へ入力される前記期待値パターンを、同一サイクル数ずつシフトさせるサイクルシフト部を設けてあることを特徴とするIC試験装置。
IPC (3件)：
G01R 31/3183 ,  G01R 31/28 ,  G01R 31/319
FI (3件)：
G01R 31/28 Q ,  G01R 31/28 H ,  G01R 31/28 R
Fターム (10件)：
2G032AA01 ,  2G032AB01 ,  2G032AC03 ,  2G032AD06 ,  2G032AE08 ,  2G032AG01 ,  2G032AG05 ,  2G032AG07 ,  2G032AH04 ,  2G032AL00
引用特許：
審査官引用 (5件)
  • IC試験装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-275132   出願人：株式会社アドバンテスト
  • 集積回路試験装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-352795   出願人：安藤電気株式会社
  • 特開平4-240580
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