特許
J-GLOBAL ID：200903052596018322
イオンガイドおよびこれを用いた質量分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
西岡 義明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-193974
公開番号（公開出願番号）：特開2002-015699
出願日： 2000年06月28日
公開日（公表日）： 2002年01月18日
要約：
【要約】【課題】組立・調整が容易にでき、しかも小径であるイオンガイドおよびそのようなイオンガイドを用いた質量分析装置を提供する。【解決手段】フレキシブル基板30上に電極部11、12をパターン形成し、これを丸めて円筒形状の保持部材10により固定することによりイオンガイドを形成する。
請求項（抜粋）：
フレキシブルな基板上に電極部をパターン形成し、このフレキシブル基板を円筒形状のベース部材を用いて支持することにより形成したことを特徴とするイオンガイド。
IPC (2件)：
FI (3件)：
H01J 49/06
, G01N 27/62 E
, G01N 27/62 X
