特許
J-GLOBAL ID：200903052636363591

測距装置

発明者：
森 利宏

森 利宏 について

, 
日野 政典

日野 政典 について


出願人/特許権者：
北陽電機株式会社

北陽電機株式会社 について


代理人 (1件)： 橋本 薫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-250064
公開番号（公開出願番号）：特開2008-070270
出願日： 2006年09月14日
公開日（公表日）： 2008年03月27日
要約：
【課題】微弱な反射光も正確に検出するべく増幅回路のゲインを大きくしながらも、強い反射光量に対して過飽和状態に到ることなく、安価な回路で安定に動作し精度の高い距離補正が可能な測距装置を提供する。【解決手段】測定対象物に向けてパルス状の測定光を出力する光源と、測定対象物からの反射光を検出する受光部と、測定光の出力タイミングから受光部による反射光の検出タイミングまでの遅延時間から測定対象物までの距離を算出する演算部を備え、反射光を光電変換するフォトダイオードPDと、フォトダイオードPDと直列接続してフォトダイオードPDに生じる光電流をクランプするダイオードDと、フォトダイオードPDの出力を増幅する増幅回路50を備えて受光部5を構成するとともに、増幅回路50の出力を積分する積分処理部を備え、積分処理部の出力に基づいて距離を補正する距離補正部を備える。【選択図】図4
請求項（抜粋）：
測定対象物に向けてパルス状の測定光を出力する光源と、前記測定対象物からの反射光を検出する受光部と、前記測定光の出力タイミングから前記受光部による前記反射光の検出タイミングまでの遅延時間を検出する時間差検出部と、前記時間差検出部により検出された遅延時間から前記測定対象物までの距離を算出する演算部を備えている測距装置であって、 前記反射光を光電変換するフォトダイオードと、前記フォトダイオードと直列接続して前記フォトダイオードに生じる光電流をクランプするダイオードと、前記フォトダイオードの出力を増幅する増幅回路を備えて前記受光部を構成するとともに、前記増幅回路の出力を積分する積分処理部を備え、前記積分処理部の出力に基づいて前記遅延時間または前記距離を補正する距離補正部を備えている測距装置。
IPC (2件)：
G01S 17/10 ,  G01S 7/48
FI (2件)：
G01S17/10 ,  G01S7/48 Z
Fターム (29件)：
5J084AA05 ,  5J084AB07 ,  5J084AC02 ,  5J084AC07 ,  5J084AD01 ,  5J084BA04 ,  5J084BA11 ,  5J084BA36 ,  5J084BA49 ,  5J084BB20 ,  5J084BB28 ,  5J084BB37 ,  5J084CA23 ,  5J084CA25 ,  5J084CA27 ,  5J084CA32 ,  5J084CA43 ,  5J084CA44 ,  5J084CA49 ,  5J084CA53 ,  5J084CA70 ,  5J084DA01 ,  5J084DA02 ,  5J084DA07 ,  5J084DA08 ,  5J084DA09 ,  5J084EA01 ,  5J084EA07 ,  5J084EA33
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (7件)
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